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                Pt底层对TbFeCo薄膜磁性能与磁光性能的影响.pdf
                    
                                      稀响金属材料与工程 
 第37 卷第4 期                                                                    Vo I.37,No.4 
 2008 年   4 月                 RARE METAL MATER1ALS AND ENGINEERING              April2008 
  Pt 底层对 TbFeCo 薄膜磁性能与磁光性能的影晌 
  程伟明 1 ,李佐宜 1 ,杨晓非 1 ,黄致新 2,都俊兵 1 ,李 震 1 ,程晓敏1 ,林史琪 1 
                              (1.华中科技大学,湖北武汉 430074) 
                              (2.  华中师范大学,湖北武汉 430079) 
    摘 要$采用射频磁控溅射法在玻璃慕片上制备了TbFeColPt非晶委直磁化膜,研究了 pt 底层对TbFeCo 薄膜磁性能 
    与磁光性能的影响.结果表明g       具有微小颗粒凹凸结构的民底黑可以显著增大TbFeCo 薄膜的慧11:磁各向异性场与矫 
    顽力,改善薄膜的磁光温度特性。 
    3是键词g 射频磁按溅射;Pt底磨; TbFeColPt非晶磊览磁化薄膜:矫顽力:克尔旋转角 
    中回法分吉隆号; TB43       文献标识码:A         文章编号: 1002斗的X(2008)04-0647心3 
    稀土过榄金属提俞薄膜具有较高的垂直磁各向异 
                                             了TbFeCo 薄膜的娇顽力,井认为 TbFeCo/ Ag 搏膜有 
性、娇湖力和非晶结构、磁性能~调节等优点,被广                      望用作热辅助磁记最介服。本3民跪在破璃基片上制备 
泛应用于磁光记盖在领域[1]. TbFeCo 作为一种典型的稀 
                                             了TbFeCo IPt 薄膜,并对其磁性能均磁光性能进行了 
土过搜金属复合薄膜,已成为第一代商用的磁光记最 
                                             研究。 
介质(2).由于磁光记敢写入磁盹倍息受到入射激光波 
                                             1  实脆 
长的限制,其记或苗度不能太高,目前商业用的 89mm 
磁光盘也只有 2.3 G。光磁温和平F储技术[3]兼具磁光记 
                                                在玻璃基片上溅射TbFeCoIPt 薄膜。采用日本 
                                             Anelva 公司 SPF-430H 多靶磁控溅射系统溅射,采用 
录与磁记求的优点,可以克服磁记录的超顺磁极限与 
                                             复合靶,基板水冷。薄膜成分由 FeCo 复合靶上放置 
磁光记录位密度较低等不足,有望大幅度提高磁存储 
                                             的 Tb 条的位置与多少来调整,本底真空皮2.0xl0-4 
容量,逐渐成为信息存储领域的一大热点。 
    光磁混和记录要求记录介质具有高的室祖娇现                     Pa,溅射 Ar 气压为 0.26-4.0 Pa,基片与靶间距为 90 
                                             mm,融射功率 100-400 W. 为防止膜层的氧化,在 
力,较高的室温饱和磁化强度,合适的居里温度与磁 
                                                                  保护层。整个膜层结构为 
                                                                                     z 
性能撤度特性。近年来,众多学者为提高磁光记录介                      TbFeCo 薄膜外层覆蘸 Si0 
  
                
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