粗检漏试验标准问题的研究及建议.pdfVIP

粗检漏试验标准问题的研究及建议.pdf

  1. 1、本文档共3页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
粗检漏试验标准问题的研究及建议.pdf

封装P、ac测kage试与琶毛咿,TrotandEc【IIip蛐眦■‘ doi:10.3969/j.issn.1003—353x.2010.11.013 粗检漏试验标准问题的研究及建议 宋玉玺,李巍 (国家半导体器件质量监督检验中心,石家庄050051) 摘要:有些外形较小或内腔腔体体积较小并且检漏合格的电子产品,进行水汽含量测定时有 时会出现样品水汽含量超标现象。为证明现行国家标准中粗检漏试验方法(高温氟油加压检漏 法)会对产品出现误判的问题,通过一系列试验和研究,证明了外形较小或内腔腔体体积较小存 在漏孔的电子产品,严格按照现行的粗检漏试验方法中规定的样品在空气中干燥有效时间(2± 1)min内进行试验,试验得到了多种结果,进而对产品形成误判,为此对标准中的该试验方法提 出了一些新的建议。 关键词:粗检漏;干燥时间;标准;水汽含量;误判 中图分类号:TN407文献标识码:A and forStandardProblemsof InvestigationSuggestion theGrossLeakTest Yuxi.KWei Song Semiconductor (National Devices and 050051,China) QualitySupervisionInspectionCenter,Shiiiazhuang Abstract:Someelectronicdeviceswitha externalvolumeorsinailintemalcavitiesand are tiny ventages inleak thedevicesareoutofthelimitinmoisturecontenttest.Forthesakeof that eligible test,but proving be leaktestmethod there a inthe inactive might justieemiscarriagehiishtemperatureperfluorocarbongross national seriesof and ofelectronicdeviceswerecarriedout.Anditwas standards,atestinginvestigations someelectronicdeviceswith externalvolumeorsmall internalcavitiesand testifiedthat tiny designed ventages time inaccordaneewiththeactual thedifferentresultsaftertestedwithineffectiveof(24-1)min got leaktestmethod.Andthis

文档评论(0)

kaku + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

版权声明书
用户编号:8124126005000000

1亿VIP精品文档

相关文档