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第二篇 X射线衍射分析 第四章 X射线衍射基本实验技术 6.2.5 测角仪扫测方式及参数 测角仪的探测器扫测时，通常有连续扫测、步进扫测、变速步进扫测和θ-θ扫测等四种。 连续扫测是从某一2θ1角度开始，在θ与2θ耦合成1:2的条件下，以某一速度作匀速扫测，同时进行衍射强度的连续测量，直至终止角2θ2。这种方式应用相当普遍，如物相分析等。但需根据试样和测定要求，选择起始角、终止角、扫测速度、时间常数和计数率等。 步进扫测则预先给定每一步的2θ角度间隔（Δ 2θ即步长），和每一步停留的测量时间Δt来测定衍射强度（定时记数），或者给定每一步的计数ΔN来测定所需时间。参数除上述应选项目外，就是扫测的起始角和终止角。 变速步进扫测就是在背底区作快速（Δt小）和较大步长扫测，而在衍射峰区则作慢速（Δt大）和小步长扫测，以提高测量精度和效率。 θ-θ扫测主要用于液态试样、熔解试样或松散粉末试样，使其保持在水平位置，而由X射线管和探测器同时反方向作θ扫动来完成扫测。 例题4.2 用铬靶Kα辐射在多晶衍射仪上扫测α铁的衍射花样。试求取起始角2θ1和终止角2θ2的值。 已知λ Kα=0.2291， αFe=0.2866nm。 解：已知λKα=0.2291， αFe=0.2866nm。由于α-Fe为体心立方钨结构，故H+K+L必为偶数，且 按此式， 越小，相应θHKL也越小。对于α-Fe, 最小的HKL应是110。代入上式，得 考虑峰宽等因素，θ1应略小于θ111，故一般取起始角2θ1为65o。至于2θ2，可先找θ为90o时对应的假想（H2+K2+L2）值，然后定出较假想值略小的真（H2+K2+L2）值，再用真值求出θHKL和2θ2值。为此取θ=90o，代入上式，得假想值为6.260，相应真值即为12+12+22=6。代回上式，得θ112=78.24o，与θ1同样考虑峰宽，终止角θ2应略大于θ112，故取2θ2=158o。 4.3 X射线能量色散测量 能量色散衍射仪结构的组成如图4-19所示，它是由半导体Si(Li)探测器、前置放大器、脉冲放大器、成形器和多道脉冲高度分析器以及计算机系统组成。 图4-19 能量色散衍射仪组成示意图 图4-20 能量色散衍射花样形成 能量色散实验的衍射花样可用爱瓦德图说明（图4-20）。此图表明，即令固定了2θ，对任一HiKiLi球面必然有一个反射球面满足衍射条件而产生HiKiLi衍射。 由于各不同i的衍射线方向与入射线方向的夹角均为2θ，因而无需移动Si(Li)探测器即可测出并记录下试样的整个衍射花样。图4-21为W靶产生的连续辐射和Si(Li)探测器在θ=10.72o上测得的铂多晶衍射花样。 图4-21能量色散衍射仪测定的铂衍射花样 这里，衍射花样以光子能量为横坐标。如以keV为光子能量单位， nm为波长单位，则从X射线的光子能量E与其波长的关系（E=hc/λ）得出 （4-4） 利用上式，从花样上各衍射峰的能量值即可求出各相应射线的波长。将这些波长代入布拉格方程，则不仅能确定试样所属晶系，还可准确算出其晶胞常数。至于有关试样结构的更多信息，则需从衍射峰的强度和形状中解出。 4.4 多晶衍射花样的度量和指数化 这里的度量的含义是指从衍射花样中取出资用的信息，供材料研究或检验使用。指数化则是定出各衍射线的HKL，这对大多数衍射实验来说都是必需的。 各种照相法记录在底片上的多晶衍射花样是由一组较黑且明锐的线环或线段组成，在衬以比较浅的背底。衍射仪记录的花样则是一组强衍射峰和垫于其下的强度变化平缓的背底。 背底来源有二：1）源于试样，诸如，入射线激发试样的荧光X射线、试样的温度散漫射、结构不完整漫散射以及康普顿散射等等；2）源于实验条件，诸如，由X射线管发出的射线中的连续辐射引起的试样衍射，X射线光路中空气、试样黏合剂以及其他的物品的散射，衍射仪探测器及后续电路中的“噪声”等。 由于从背底中取出资用信息殊非易事，故除极精细的实验外，一般工作均将其扣除不用。 I-2θ曲线在扣除背底后提供出的主要信息就是各衍射线的峰形、峰位和峰下面积。 图4-22 德拜花样的测量（a）2l测量；（b）强度测量 4.4.1 峰形和峰位 所有试样的I-2θ曲线上的衍射峰均非极细锐，而是宽化成“山峰状”。宽化的来源也有二方面：（1）试样结构：诸如晶块大小，晶体中有应力等等； （2）实验条件：诸如德拜-谢乐法的入射线细束仍有一些发散，试样柱并非无限细；衍射仪的线焦斑亦非几个细线，板状试样只是准聚集；X射线会透入试样内部等。 图4-23 Kα1和Kα2峰形部分叠合的峰形 图4-24 衍射峰位2θ的确定 峰位对应的2θ是HKL衍射线的真正2θHKL，是最重要的实测数据。对不要求高精细的实验，可直接以山峰顶P0（图4-24）对应的2θ作为2θHKL。