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利用软印刷结合扩散制作纳米颗粒样品的方法.pdf

第31卷第4期 核 技 术 V01.31,No.4 NUCLEAR 2008年4月 TECHNIQUES ApIil2008 利用软印刷结合扩散制作纳米颗粒样品的方法 牛冬校1冯晓录1’2蔡翔舟1沈文庆1 1(中国科学院上海应用物理研究所上海201800) 2(辽宁大学物理系沈阳110036) Probe 摘要扫描探针显微镜(SPM,ScanningMicroscopy)是进行纳米材料表面性质测量的有力工具。制样是进 行$PM观测的关键性技术。分子问作用力较强的纳米颗粒在制样过程中常常会发生二次聚合形成团簇,给 SPM观测带来困难。针对纳米颗粒制样过程中的再聚合问题,本文提出了一种软印刷转印结合扩散的方法。 利用基底表面的液膜对转引形成的纳米颗粒分布进行增强的扩散,从而得到适合SPM观测的纳米颗粒样品。 验证实验结果表明此方法是一种可用于sPM观测纳米颗粒的有效制样手段。 关键词纳米颗粒,扫描探针显微镜,二次聚合,软印刷,扩散 中图分类号TB302.1 纳米材料是至少有一维尺度为1—100nln的物 的表面张力牵动下,纳米颗粒彼此碰撞结合的机率 增加,会在液滴挥发的渍迹边缘自组装发生二次聚 剧11。以扫描隧道显微镜(STM,ScanningTunneling Force合‘1川(图1)。 Microscope)、原子力显微镜(A_FM,Atomic Force Microscope)、磁力显微镜(MFM,Magnetic Microscope)、横向力(摩擦力)显微镜fLFM,Lateral Force Microscope)、静电力显微镜(EFM,Electrostatic Force Microscope)以及粘弹性测量显微镜为主要成 ProbeMicros- 员的扫描探针显微术(SPM,Scanning copy),可获得纳米材料的表面形貌,以及表面电势、 Nmaopartiele 摩擦力、粘弹力、表面电阻等表面性质陋71,成为纳 米科学研究的有力工具。SPM成像须将样品制备在 图1纳米颗粒随溶液挥发的二次聚合示意图【101 with Sketchof thesolution reuniting Ordered Fig.1 mapnanoparticles 云母或高定向热解石墨(Highly Pyrolytic volatilizing Graphite)等原子级平整的基底表面。制作纳米颗粒 样品时,通常会遇到纳米颗粒的二次聚合问题【8。10】。 针对以上问题,本文提出一种软印刷转印结合 为消除二次聚合颗粒的干扰,通常须对溶液进行机 扩散增强的制样方法,在基底表面制作满足SPM测 械搅拌或超声共振【l¨,但这些方法制作SPM样品 量要求的纳米颗粒样品。为验证此种制样方法的可 时存在以下问题:(1)纳米颗粒在溶液中的密度不 高,搅拌对纳米颗粒团聚体的分散有很大的随机陛, 制作样品,并进行AFM观测。 且仅需微量溶液到基底

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