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神经网络预测模型来评价电子元件的可靠性 广州通信研究所 李玉斌 摘要 神经阍络预测模型是评价电子元件可靠性的方法之一。其优点是预测 精度高．可大大缩短试验时间，而且可根据初期试验数据得到的MTTF值预测未 来的MTTF值．本文将对这种预测方法进行介绍，并和数理统计型自回归预甥l法 做一比较和研究． 关键词 可靠性预测 平均无故障时间 神经网络 自回归模型 碳膜电阻 1．可靠性试验 1．1．可靠性试验及其评价 通常，机器在设计阶段就设定好了目标寿命．而确认机器的可靠性，需要进行破坏性 试验、工作试验、强制老化试验等可靠性试验，以保证产品进入市场后能安全、可靠地运 行。但是，正如巴斯塔布故障率曲线所示，机器寿命大多都比设计值要短。而且簧进{亍正 规的可靠性试验，还必须考虑锚造机器的工作环境条件。实际上