每种物质都有其特定的晶格类型.docx

每种物质都有其特定的晶格类型、晶胞尺寸，晶胞中的原子数及各原子的位置也是一定的，因而任何多晶体物质都有其特定的X 射线衍射谱。X 射线衍射图谱中各线条的角度位置所确定的晶面间距以及它们的相对强度I/I1(I1 是最强线的强度)是该多晶体的固有特性，即使该物质处在混合物中也不会改变。这就是X 光能作物相分析的依据。楼主所说的“同一种物质”是不是指的同一种物质的不同相？同一物质，为什么XRD测试会有不同的衍射峰，且不同衍射峰有不同的结晶度XRD衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小，还是与晶体颗粒大小有关。样品中晶粒越小，衍射峰的峰高强度越来越低，但是峰越来越宽，实际上利用X射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的（Scherrer公式）。晶粒大小和颗粒大小有关系，但是其各自的含义是有区别的。一颗晶粒也可能就是一颗颗粒，但是更可能的情况是晶粒抱到一起 , 二次聚集 , 成为颗粒。颗粒不是衍射的基本单位噻, 但是微小的颗粒能产生散射。你磨的越细 , 散射就越强.。对于晶粒, 你磨过头了, 晶体结构被破坏了, 磨成非晶, 衍射能力就没有了。磨得太狠的话，有些峰可能要消失了，而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加，最终会变成1个或几个鼓包。一般晶面间距大的峰受晶粒细化的影响会明显一些，因为d值大的晶面容易被破坏2.强度除了和晶粒度有关外,还和晶粒的表面状态有关。一般颗粒越细,其表面积越大，表面层结构的缺陷总是比较严重的。结构缺陷将导致衍射强度降低和衍射峰宽化。XRD研究的应该是晶粒、晶体的问题，与晶体结构关联的问题，不是样品颗粒的大小问题，谢乐公式算的应该也是晶粒的大小。样品颗粒的大小要用别的方法测定.，例如光散射、X射线散射、电镜等X射线在晶体中的衍射实质上是晶体中各原子散射波之间的干涉结果。将上述波干涉的基本原理应用到X射线衍射中，我们就很容易理解X射线的衍射并导出计算X射线衍射方向的布拉格方程。假定有一晶体结构(见图2-11)，它的晶面间距是d’。当波长为λ的X射线以θ的入射角(注意这里的入射角与一般光学上的入射角不同，后者是入射线与法线之间的夹角，而这里是入射线与晶面之间的夹角)照射该晶体上时，如上章所述，X射线与晶体中的原子会产生相干散射，产生波长与入射X射线波长相同的相干的X射线。这时每个原子都是产生相干X射线的源。因此，这些散射产生的X射线可以产生干涉作用。我们先来考察一下在反射线方向上产生衍射的情况。先看一下射线1和2的情况。它们的波前在X位置时具有相同的位相，经质点散射后到达Y。由于二者所经过的路程不同，就会产生一定的波程差△。这个波程差可以计算出来。图中可见，射线2比射线1多走了M-L-N的距离。?????????? △=ML+NL=d’sinθ+d’sinθ=2d’sinθX射线在该方向产生衍射，即X射线通过干涉得到加强的条件是△为波长的整倍数，即?????????? △=nλ 或 2d’sinθ=nλ?? (n=1,2,3,……)这就是著名的布拉格方程，或布拉格公式或布拉格定律。它是由布拉格父子在1912年提出。其中，n叫反射级数。θ角称掠过角或布拉格角。布拉格方程是X射线衍射分析中最基本的公式。布拉格方程的简明扼要地给出了X射线的衍射方向。即，当入射X射线与晶体中的某个晶面(hkl) 之间的夹角满足布拉格方程时，在其反射线的方向上就会产生衍射线。否则就不行。由于n是不连续的，所以扫射多晶体物质其结构和组成元素各不相同，它们的衍射花样在线条数目、角度位置、强度上就显现出差异，衍射花样与多晶体的结构和组成 (如原子或离子的种类和位置分布，晶胞形状和大小等) 有关。一种物相有自己独特的一组衍射线条 (衍射谱)，反之，不同的衍射谱代表着不同的物相，若多种物相混合成一个试样，则其衍射谱就是其中各个物相衍射谱叠加而成的复合衍射谱，从衍射谱中可直接算得面间距d值和测量得到强度I值。在实际工作中七个晶系叫法有多种，英文名称也不尽相同。表1分别列出了七个晶系的中、英文名称及d值与晶面指数hkl的关系。