新的电调制反射谱技术及其应用33-Core.PDF

光 电 子 ·激 光 第 16 卷 第 8 期 　2005 年 8 月 Vol . 16 No . 8 　Aug . 2005 　　　　　 J ou r n a l o f Opt oelect r onics ·L aser 　　　　　　　 新的电调制反射谱技术及其应用 蔡加法 , 陈主荣 , 吴正云 (厦门大学物理系 ,福建 厦门 36 1005) ( ) ( ) 摘要 :提出一种微接触电调制反射谱 L CER 测试方法 ,该方示与无接触电调制反射 CER 谱相比较 ,可 极大降低调制电压 。给出了自制的详细样品架结构 ,测量了 In GaA s/ GaA s 量子阱样品 ,并与光调制反 ( ) 射谱 PR 相比较 ,结果证实了此方法的可行性和高光谱灵敏度 ,表明样品与电极的轻微接触既对测量 结果没有明显的影响 ,又可简化测试条件 ,降低对测量环境的要求 ,是研究半导体材料和微结构一种方 便而又有效的方法 。 ( ) ( ) 关键词 :微接触电调制反射谱 L CER ; 光调制反射谱 PR ; 量子阱 中图分类号 :O472 + . 3 　　文献标识码 :A 　　文章编号 (2005) A Ne w Type of Electromodulation Spectroscopy and Its Appl ication CA I J iaf a , C H EN Zhurong , WU Zhengyun (Dep art ment of Phy sics ,Xiamen U niver sit y ,Xiamen 36 1005 ,China) Abstract :A new typ e of lightcont act electror eflect anc e (L CER) sp ectro scop y t echnique wa s p ropo sed . The me a surement of the mo dulation sp ectro scop y can b e simplified by using thi s metho d . The structur e of the sample holder wa s p r e sent e d in det ail . The r e quire d am plitude of mo dulation volt age can b e largely r educ ed by comp aring with that of CER and the mechani sm i s analyzed qualit atively . The exp eriment al r e sult s in In GaAs/ GaAs quantum w ell sample s by u