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射频磁控溅射法制备TiO2薄膜及其N掺杂改性TiO2xNx薄膜研究论文
摘要
摘 要
TiO2 作为一种性能优良的半导体材料,化学性质稳定,无毒性,取料广泛,
制造成本低廉,在光催化、太阳能电池、太阳能光解水制备氢气及自清洁材料上
有广阔的应用前景。然而,由于TiO 的禁带宽度E 较宽(锐钛矿相E =3.2eV 、
2 g g
金红石相E =3.0eV ),只有在紫外光的激发下才可以显示出光活性,而紫外光仅
g
占太阳光谱的5%左右,大大的限制了其利用效率。因此,通过掺杂改性将TiO2
的光响应波长拓展到可见光区,以提高对太阳能的利用效率具有十分重要的研究
价值。
本研究采用射频磁控溅射法分别在Si(100) 、LiAlO (302)和K9 玻璃衬底上制
2
备了TiO2 薄膜及N 掺杂的TiO2-xNx 薄膜。通过改变溅射气氛中的N2 分压比来控
制N 掺杂含量,并采用不同气氛退火处理薄膜样品。同时借助XRD 、XPS 、Raman
Spectra、SEM 和UV-Vis Spectra 等测试手段,表征薄膜的结构和光谱性质。
测试研究结果表明,在 Si(100)基所制备薄膜结晶性良好金红石相结构,而
在LiAlO (302)衬底和K9 玻璃衬底上所制备的薄膜样品为非晶的,在N 气氛中
2 2
773K 退火处理1 小时后为锐钛矿结构。TiO2-xNx 薄膜中N 的掺杂量分别为1.82%
和 2.54% 。N 原子是以三种形式存在于薄膜样品中,即:取代格位中的 O 原子
形成N-Ti 键(NO )、与格位中的O 原子形成N-O 键、间隙式缺陷N 原子(Nint )。
且随着氮气分压的增加,取代O 格位的NO 原子和间隙式Nint 原子趋于饱和,而
以N-O 键存在的N 原子则迅速增加。
关键字:TiO ;射频磁控溅射;氮掺杂;X 射线光电子能谱;透射光谱;拉曼光
2
谱
I
射频磁控溅射法制备TiO2 薄膜及其N 掺杂改性TiO2-xNx 薄膜研究
Abstract
As a high-performance semiconductor material, the nature of the chemical
stability, non-toxic, manufacture low-cost, TiO2 has broad prospects in solar cells,
photocatalysis, solar-water solution of hydrogen and self-cleaning material. However,
only in the ultraviolet excitation can show that light activity because of the TiO2 wider
band gap (anatase Eg=3.2eV, rutile Eg=3.0eV). And ultraviolet is only around 5% in
solar spectrum, so it significantly restricts its use efficiency. Therefore, modified by
doping TiO2 will expand the wavelength of light response to visible light, to enhance
the utilization efficiency o
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