AFM和STM.pptVIP

原子力显微镜AFM的优缺点 相对于扫描电子显微镜，原子力显微镜具有许多优点。不同于电子显微镜只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。 和扫描电子显微镜(SEM)相比，AFM的缺点在于成像范围太小，速度慢，受探头的影响太大。 SPM 探头由以下主要部分构成： 探针架：用于夹持固定探针，有两种探针架：STM探针架和AFM探针架，分别用于夹持固定STM探针和AFM探针，并使系统实现STM和AFM功能。 激光器（Laser）：用于激光检测原子力显微镜（Laser-AFM）的各种扫描模式中。SPM探头上的位于右边的两个旋钮分别调节激光器的水平（X）和垂直（Y）的位置。 光斑位置探测器（PSD）：用于激光检测原子力显微镜（Laser-AFM）的各种扫描模式中。是一个四象限的的光强计，每个象限均可独立的探测落在上面的光强，从而实现光斑位置的检测。SPM 探头上的位于左边的两个旋钮分别调节PSD 的水平（X）和垂直（Y）的位置。 根据不同的操作模式，PSD 可以提供不同的信息： SUM：落在光斑位置探测器的四象限上的总光强。 Up-Down：光斑位置探测器的上下两部分的光强差。这个信号反映了探针上下偏转的形变量，直接用于AFM 的接触模式；或经过转换后，用于AFM 的轻敲模式。 Left-Right：光斑位置探测器的左右两部分的光强差。这个信号反映了探针左右扭转的形变量，用于摩擦力显微镜。 扫描探针的电镜图像 减震装置 系统配备的探头声、光、电、磁屏蔽减震箱具有较好的抗干扰效能，但是，为使系统达到最佳状态，尤其是用户的具体应用领域对分辨率要求较高时，应将探头置于减震装置上。减震装置一般可采用光学气垫平台或弹簧减震架。 测量步骤 安装原子力显微镜（AFM）探针 选择 AFM 探针架； 准备好将要使用的原子力微悬臂探针； 把 AFM探针架正面向上放置，用一手的拇指和食指小心捏住微悬臂探针压紧弹片两边，轻轻往上提起，使其与探针支架的定位块分离，另一手用镊子夹住微悬臂探针的玻璃基片两侧，小心放在探针支架的定位块上，小心放开压紧弹片，即将微悬臂夹在探针支架上（如下图）； 探针安装的位置以玻璃体突出 1～2 毫米为佳； 安装探针架 将安装好探针的探针架反面向上，捏住探针架的把手，沿SPM 探头向前方向，顺着滑槽插入探针架，直到最里面，可听到轻轻的“喀”的声音。 AFM 接触模式简易操作步骤 1． 进入 SPM Console 软件； 2． 放入适当扫描范围的扫描器； 3． 将接触模式的探针装入 AFM 探针架中，并将探针架插入探头内； 4． 放入样品； 5． 打开控制机箱电源，选择“接触”模式，并打开激光； 8． 设置参考点，一般 0.2～0.5 即可； 9． 自动进针至 Z 电压160V，单步前进或后退到Z 电压为0V 左右（-20V～20V）； 14．根据示波器上的信号选择低通滤波的水平； 15．打开探针起伏窗口（信号为探针的形变量，反映了探针－样品之间的作用力）和摩擦窗口（信号为横向力），参考形貌窗口的方法，调节所得的扫描信号； 16．扫描结束后，保存在缓冲区中； 17．退针。 1.2Pa-300K-SI000 1.2Pa-400C-SI000 粗糙度分析报告 图像尺寸：1000.00nm X 1000.00nm Root Mean Square :11.7 [nm] 粗糙度分析报告 图像尺寸：1000.00nm X 1000.00nm Root Mean Square :10.7 [nm] 0.4Pa-300K-SI000 1.2Pa-300K-SI000 粗糙度分析报告 图像尺寸：1000.00nm X 1000.00nm Root Mean Square :12.8 [nm] 粗糙度分析报告 图像尺寸：1000.00nm X 1000.00nm Root Mean Square :11.7 [nm] 0.4Pa-400°C-SI000 1.2Pa-400°C-SI000 粗糙度分析报告 图像尺寸：1000.00nm X 1000.00nm Root Mean Square :10.6 [nm] 粗糙度分析报告 图像尺寸：1000.00nm X 1000.00nm Root Mean Square :10.7 [nm] 6． 调节激光器的位置，使激光落在探针的针尖的背面； 7． 通过软件中光斑窗口，调节探测器的位置，使光斑落在中间的圆圈中； 10．开始扫描； 11．打开形