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3.3 测量系统双性（R R） 3.4 零件变差 零件数N 2 3 4 5 6 7 8 9 10 K3 3.65 2.70 2.30 2.08 1.93 1.82 1.74 1.67 1.62 3.5 总变差 3.6 各变差占总变差的百分比 %AV=AV/TV X 100% %RR=RR/TV X 100% %PV=PV/TV X 100% %EV=EV/TV X 100% 应同时将EV、AV、RR各值与公差带宽度比较，得出各变差占公差带的百分比。 %RR可接受的条件是： 10%可接受； 10~30%——有条件可接受； 30%——不可接受，应改进。 数值10%的误差测量系统可接受 . 10%数值30%的误差测量系统可接受或不接受, 决定于该测量系统之重要性, 量具成本、修理所需之费用等因素，可能是可接受的 . 数值30%的误差测量系统不能接受, 须予以改进. 进行各种分析发现问题并改正，必要时更换量具或对量具重新进行调整, 并对以前所测量的库存品再抽查检验, 如发现库存品已超出规格应立即追踪出货，通知客户, 协调处理对策 . 必须有一半或一半以上的值在限值外，则测量过程能检测出零件间的变差。 XYZ公司根据控制计划中要求针对游标卡尺作RR分析，选定3名操作者A、B、C，选定10个被测零件，按1、2、……10编号，其所测结果均记录在表17-2中，请根据该表所测结果计算：EV=?,AV=?,RR=?,PV=?,TV=?,%EV=?,%AV=?,%RR=?,%PV=?,根据%RR的计算结果请判定此游标卡尺是否符合要求？ 获取一样本并确定其相对于可追溯标准的基准值, 若无样本则可从生产线中取一个落在中心值域的零件当成标准值, 并指定它作为标准样本进行稳定性分析。 定期(时、天、周)对标准件或样本测量3～5次. 注意, 决定样本量及频度的考虑因素应包括要求多长时间重新校正或修理次数, 测量系统使用的频度与操作环境(条件)等. 将测量(数据)值标记在X-R CHART 或X–S CHART上. 计算控制界限, 确定每个曲线的控制限并按标准图判断失控或不稳定状态 。 计算标准差, 并与测量过程偏差相比较, 以评估测量系统的重复性是否适于应用.不可以发生此项之标准大于过程标准差之现象，如果有发生此现象，代表测量之变异大于过程变异，此项仪器是不可接受的 。 稳定性之判定：稳定性之判定一般之方式和控制图之判定方式是一致的，(一)不可以有点子超出控制界限，(二)不可有连续七点在控制图之同一侧，(三)不可以有连续七点持续上升或下降之情形（含相等的相邻点）；（四）明显的非随机图形；（五）相对中心线，数据过于集中或分散。如果有以上之情形，代表仪器已不稳定，须做维修或调整，维修及调整完后须再做校正以及稳定性之分析 。 独立取样法 : 获取一样本并确定其相对可追溯标准的基准值, 若无样本则可从生产线中取一个落在中心值域的零件, 当成标准值。（且应针对预期测试值的最低值、最高值及中程数的标准各取得样本或标准件，每个样本都要求单独分析，并对每个样本或标准件测量10次, 计算其平均值, 将其当成 “基准值” .） 由一位作业者以常规方式对每个样本或标准件测量10次. 并计算出平均值, 此值为 “观测平均值” . 计算偏倚 : 偏倚= 观察平均值 – 基准值 过程变异= 6σ 如果需要一个指数，把偏倚乘以100再除以过程变差(或公差)，就把偏倚转化为过程变差(或公差)的百分比，偏倚占过程变差的百分比计算如下： 偏倚%=100[(偏倚)/过程变差] 偏倚占公差百分比采用同样方法计算，式中用公差代替过程变差。 已知：基准值=0.8mm，零件过程变差=0.7mm 一位评价人对样件测量10次结果（以mm为单位） 0.75 0.75 0.80 0.80 0.65 0.80 0.75 0.75 0.75 0.70 X= Σx 10 = 10 7.5 = 0.75mm 偏倚=0.75-0.8=-0.05 偏倚占过程变差百分比=0.05/0.70=7.1% 判定:针对偏倚之部份，判定之原则为： 重要特性部份其偏倚%须=10%； 一般特性其偏倚%须30%；应依据仪器之使用目的来说明其接受之原因。 其偏倚%大于30%者，此项仪器不适合使用。 标准或基准值误差，检验校准程序。 仪器磨损，主要表现在稳定性分析上，应制定维护或重新修理的计划。 制造的仪器尺寸不对。 仪器测量了错误的特性。 仪器校准不正确，复查校准方法。 评价人员操作仪器不当，复查检验方法。 仪器修正计算不正确。 独立取样法 : 针对产品所须使用之范围，利用标准件或产品样本(一般区分为五个等分，其范围须包括产品之规格公差之范围)来做仪器之线性分析，如果是采用标准件须有真值，如果是使用产品样本时，则这些