国产多核处理器芯片TDBI技术研究.pdfVIP

echni 上 c mcalI技术专栏 国产多核处理器芯片TDBI技术研究 翁 雷，望正气，曲 芳 (江南计算技术研究所，无锡 214083) 摘要 ：随着集成 电路的功能越来越复杂，超大规模集成 电路的动态老炼越来越成为一项困难的工作。传统针对超大规 模集成电路的老炼多采用静态老炼方法，这种方法不能使电路 内部的功能节点动作起来，无法保证老炼效果，因此能 够实现电路内部所有功能模块全动态激励的TDBI技术越来越受到人们的关注。本文以国产多核处理器芯片为测试对象， 为研究多核处理器芯片的TDBI方法进行了芯片老炼测试软硬件系统开发，解决了多核处理器老炼中大功率电源供电、 图形存储空间不足等关键技术。 关键词：国产多核处理器；老炼中测试；超大规模集成 电路 中图分类号：TN47 文献标识码：A 文章编号2014)04—006604 TechniqueStudyinTest—-During--Burn--InforDomesticMulti-—coreProcessor WENGLei，WANGZheng—qi，QUFang (JiangNanInstituteofComputingTechnology，Wuxi 214083) Abstract：Now the function of IC iS more complex， the dynamic burn—in ofVLSI iS more difficult． The statiC burn—in iS used widely for the traditionalburn—in of VLSI． but thiS method can’t drive the innernodeofVLSI，SOtheTDBI (Test—During—Burn—In)which candrivethe innermodules iSmoreand more regarded by people． In the paper， the domestic multi-core processor Was the object that has been tested， and we have designed the software and hardware system which has been researched for the domestic multi-core processor in TDBI， and the system can sett1e the pivotal technique which iS composed of the high—power supple and the graphiCS—memory interspace in burn—in for multi—core procesSOt． Keywords：domestiCmulti—core processor：TDBI (TestDuring—Burn—In)；VLSI (very Iarge scale integration) 前言 传统老炼是给器件的电源端加电及对输入管脚施加 目前 ，国内常用的老炼试验方法主要基于现行的国 50％占空比的动态波形 ，输入电平不可变，对器件的输 军标 、国标等标准，这些标准主要针对的是通用集成电 出管脚只能进行灌电流的半参数试验 】。一般的动态老 路 ，由于多核处理器是一种采用深亚微米工艺制造技 炼设备受通道数的限制 ，只能满足中小规模集成电路的 术的超大规模集成电路 (VLSI) ，如果仍用传统的老 老炼试验，而且器件在高温环境下的功能和电参数等技 炼 、