基于IEEE 1500的数字SOC测试系统的设计与实现.pdfVIP

计算机测量与控制 ．2013．21(5) · 1140 · Computer M easurement Control 目动化测试技术 文章编号 ：1671—4598(2013)O5—1140—03 中图分类号 ：TP47 文献标识码 ：A 基于 IEEE1500的数字 SOC测试系统的设计与实现 陈寿宏，颜学龙，陈 凯 (桂林 电子科技大学 电子工程与 自动化学院，广西 桂林 541004) 摘要 ：IEEE1500为核供应者与核应用者提供接 口，可有效实现测试 电路复用 。简要分析 IEEE1500标准，包括核测试壳 Wrapper 及核测试语言 (CTL)两者的结构和特点；论述基于 IEEE1500的数字 SOC测试系统 的总体设计 目标 ，设计了测试系统的软硬件体系结 构 ，并构建 了测试系统 ；通过 DEMO 电路测试验证 ，系统可正确实现扫描链完备性测试 、核功能 内测试及核互连测试 ，表明系统工作稳 定 ，通用性强 。 关键词 ：IEEE1500；SO