硫化时间对固态硫化铜锌锡硫薄膜性能的影响.pdfVIP

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2017-08-20 发布于北京
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硫化时间对固态硫化铜锌锡硫薄膜性能的影响.pdf

Vo l. 44 No.9 9 期第第 44 卷材料工程 2016 年 9 月第63-67 页 Journal of Materials Engineering Sep. 2016 pp.63-67 硫化时间对固态硫化铜铸锡硫薄膜性能的影晌 Effect of Sulfurization Time on Properties of CZTS Thin Films by Solid-state Sulfurization 曹中明，杨元政，许佳雄，谢致薇 (广东工业大学材料与能源学院，广州 510006) CAO Zhong-ming , YANG Yuan-zheng , XU Jia-xiong , XIE Zhi-wei CSchool of Materials and Energy ,Guangdong University of Technology ,Guangzhou 510006 ,China) 摘要:采用固态硫化法硫化铜锡铸(CZT) 预制膜制备铜铸锡硫(CU2 ZnSnS, ， CZTS) 薄膜，研究硫化时间对 CZTS 薄膜性能的影响。利用 X 射线衍射仪(XRD)和紫外拉曼光谱仪(Raman) 分析薄膜的物相结构，通过 X 射线能谱仪(EDS) 分析薄膜的化学组分，采用扫描电镜(SEM) 观察薄膜的表面形貌，利用 UV-Vis 研究薄膜的光学特性。结果表明:随着硫化时间延长，Cu 含量增加，Zn 含量明显减少。硫化 40min 以上制备的薄膜出现导致禁带宽度减小的杂相 SnS， Sn S3 和 2 CU2 SnS3 。当硫化时间为 20min 时，样品为单相的 CZTS 薄膜，薄膜表面均匀平整，化学组分贫 Cu 富 Sn ，吸收系数达 1 10cm- ，禁带宽度 E. 约为1. 56eV o 关键词:磁控溅射;铜铸锡硫薄膜;固态硫化;硫化时间 doi: 10. 1l868/j. issn. 1001-438 1. 2016. 09. 010 中图分类号: TB332;TM615 文献标识码:A 文章编号: 1001-4381(2016)09-0063-05 Abstract: Cu ZnSnS4 CCZTS) thin films were prepared by solid-state sulfurizing Cu-Zn-Sn(CZT) me- Z tallic precursors. The effect of sulfurization time on phases , chemical composition , surface morpholo- gy and optical properties was investigated b