反应速度测试.docx

沈阳航空航天大学课 程 设 计 报 告课程设计名称：微机系统综合课程设计课程设计题目：反应速度测试院（系）：计算机学院专 业：技术及科学与技术班 级：学 号：姓 名：指导教师：张维君完成日期：2013年7月7日目 录第1章总体设计方案11.1课程设计的内容和要求11.2 设计原理11.3设计思路2第2章详细设计方案32.1实现方法32.2模块设计42.2.1主程序流程图42.2.2初始化模块52.2.3中断程序流程图52.3程序连线图6第3章调试及结果分析73.1调试步骤及方法73.2实验结果7参考文献8附录9第1章 总体设计方案1.1课程设计的内容和要求一、课程设计内容：1.用8255控制8个发光二极管，某一时刻一个发光二极管亮，拨动对应的开关后，现在亮的发光二极管灭，另一个发光二极管亮，重复10次这样的过程；2.用8253记录从发光二极管亮到拨动开关的时间；3.将最后的总时间显示在数码管上。二、课程设计要求：1.认真查阅相关资料；2.独立设计、调试并通过知道教师现场验收；3.撰写课程设计报告。1.2 设计原理根据课程设计任务书的要求，通过测试8个开关控制8个发光二极管的10次亮灭所需的时间，来测试反应速度，并将测试出的时间显示在数码管上。程序先初始化各芯片及装入中断服务程序，然后从预先建立的控制10次发光二极管亮灭的顺序表中读取第一个数据，并显示在发光二极管上，同时计时器开始计时，并显示在数码管上，然后不断读取8个开关的状态，当对应的开关拨动时，发光二极管灭，之后从顺序表中读取第二个数据，显示在发光二极管上，这个过程重复10次，当第10次发光二极管所对应的开关拨动时，计时器停止计时，数码管上所显示的时间就是所测试的反应时间。在本次设计中使用了8255A并行接口芯片芯片、8253定时/计数器芯片、8259A中断控制芯片以及8279键盘/显示芯片来完成反应速度的测试。其中利用8255芯片实现8个开关控制8个发光二极管亮灭的功能；8253定时/计数器芯片实现分频功能，使其产生100HZ（10毫秒）的方波，使计时周期为10ms；利用8259A中断控制芯片产生中断响应，通过8253控制8259每10毫秒产生一次中断，使秒表加1，实现计时功能；利用8279键盘/显示芯片在数码管上进行显示，将测试出的反应时间显示在数码管上。1.3设计思路根据课设设计任务书的要求可将设计分为初始化模块、控制模块、计时模块以及显示模块。利用现有的环境，可用汇编语言来控制实验箱中的芯片来测试反应速度。初始化模块主要功能就行设置各芯片的工作方式及建立中断向量表。其中8255A并行接口芯片的工作方式是通过PA口控制输入，PB口控制输出；8253计时器的工作方式是使用计时器0，计数初值16位，以方式3的模式产生100HZ的方波；8259A中断控制芯片的工作方式是单片的以30H为中断类型号，并且只允许IR0中断；8279键盘/显示芯片的工作方式是以8个字符左进方式显示。控制模块的主要功能就是用8个开关控制8个发光二极管的亮灭。当第一个发光二极管亮了之后，改变计时模块的状态位(SWITCH)来控制计时器启动，然后不断的读取PA口输入端的状态，当对应的开关拨动之后，发光二极管灭，然后点亮第二个发光二极管，然后不断的读取口的输入状态，重复10次这样的过程，当第10次的发光二极管所对应的开关拨动之后，改变及时模块的状态位(SWITCH)控制计时器停止。计时模块的功能就是用来计算时间。计时模块要按照状态标志位(SWITCH)来控制计时器的开始停止时间，即受到状态位的控制。利用8253定时/计数器芯片产生方波来计算时间，每个方波的周期为10毫秒，当一个周期完成时产生中断，系统进入中断程序来实现计时，使时间增加1百分秒，保存在内存中，最后调用显示模块来显示时间。其中中断由8259A中断控制芯片产生。显示模块的功能就是用来显示时间。利用8279键盘/显示芯片在LED上分别显示秒和百分秒。第2章 详细设计方案2.1实现方法内存分配程序中所需定义的内存单元含义如下：LED：存放0~9在数码管上显示的编码，共10个字节。TAB: 存放8个发光二极管10次点亮的顺序，共10个字节TIME：存放所测试的反应时间，共8个字节。分别秒、百分秒。SWITCH：计时器运行状态，占1个字节，开始(0)停止(1)。时钟频率选择CPU的频率为。用8253芯片产生方波。计数器0的接CPU时钟脉冲,计数初值为0C00H，使产生周期为10ms的方波。显示设置显示功能由8279芯片和数码管实现。秒表的显示规则是（秒、百分秒），即（000000、00）。端口地址分配本次课程设计共使用了4种芯片，他们的端口号设置如表2.1所示。表2.1 端口地址分配表芯片名称端口号含义8255A20