了解XRF测试中铅的干扰因素.PDF

了解XRF 测试中铅的干扰因素 摘要 XOS 软件旨在对样品的基体效应做出准确响应。然而，和任何分析技术一样，总有一些样品对XRF 来说具有特别的挑战性，一般 是由于材料的密度和/或元素的组成。本文件讨论了光谱干扰的一般成因，对涉及到检测和定量测量各种均匀样品基体中铅（Pb） 含量时所碰到的常见问题做出了回答。 是什么原因导致铅的测量浓度偏高和检测限（LOD）的增加？ 元素干扰可能会导致铅的测量结果偏高，这是由于激发能出现了重叠问题。这 种重叠有可能由以下三种情况中的一种或多种引起： ■ 发射谱线直接重合：例如，砷（As ）的Ka 发射能为10.54 keV，而Pb 的 La 发射能几乎一样，是10.55 keV。任何和Pb 发射能接近的元素都有可能 造成铅的测试值偏高。具体请参见第二页周期表中列出的特征发射值。 ■ 叠加峰与发射谱线相重合：当检测器将两个或者更多的光子作为一个光子进 行计数时，就会出现叠加峰。叠加峰对基体中具有高强度X 发射谱线的主要 元素的影响特别明显。叠加峰可能会和其他元素的发射谱线重合，比如铁 （Fe）叠加峰的数值（12.8 keV)）就和铅的Lß （12.61 keV）发射谱线出 现了重合。 ■ 在特定条件下的发射谱线干扰：有些发射谱线的干扰只有在某种元素的浓度 特别高时才会发生。主要元素的能量分布值过高，会小幅提高相邻元素的检 出限。 在塑料基底中是否有内在的铅干扰因素？ 聚合物内没有内在的干扰因素，因为其大部分的组成成分是有机的，而XRF 检 测对有机部分没有响应。聚合物的基底干扰可能来自于基底中的其他元素，这 些元素的特性已经在上一节中做了说明。通常，聚合物基底中Pb 的主要干扰因 素是高浓度的溴（Br）或铋（Bi），如图1 所示。 在金属基底中是否有内在的铅干扰因素？ 含有As 的Fe 样品会增加Pb 的LOD，并可能导致测量结果出现错误，因为Fe 的叠加峰的存在，还有As 的发射谱线出现了直接重合，如图2 所示。如果Fe 基底选用的是含有大量铬（Cr ）的不锈钢，那么会进一步提高铅的LOD，这是 因为由于Cr 也有叠加峰，还有As 的Kß 发射谱线和Fe 的重合了。 better analysis counts 中国联络处：北京市朝阳区建国门外大街22 号赛特大厦2301，邮编：100004， 电话：010传真：010客服热线电话：4000046026 中国技术服务中心：深圳市福田区车公庙泰然工业园区天展大厦F2-6 栋3D 单元311 室， 英文网站： 中文网站： 邮编：518040，电话：07552/3