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常见透射电镜的衍衬像分析
常见透射电镜衍衬像分析 Jenny 2012年11月16日 电子像的衍射衬度 样品厚度与衍衬像及衍射花样的关系 成像模式和衍射模式的工作原理 拍摄前需所做准备工作 电镜下的视场和注意事项 等倾和等厚条纹 明场像和暗场像示意图 明场像和暗场像举例 位错线的观察 Moiré 条纹应用实例 能量过滤透射电镜衍衬像 * 质厚衬度 衍射衬度 相位衬度 质量厚度差异造成的透射束强度的差异而形成的衬度。 不同区域满足布拉格条件的衬度不同以及结构振幅 不同而产生的衬度。 电子束在试样出口表面上相位不一致，使相位差转换成强度差而形成的衬度。 电子像的衬度 (contrast)—样品的两个相邻部分的电子束强度差。 振幅衬度 TEM 样品厚度 10 nm 100~150nm 20~500 相位衬度 HRTEM Z contrast image STEM 适合观察菊池线 衍射衬度 明场相 暗场相 TEM样品质量决定着最终的成像质量和微区分析的深入与否。 成像模式 衍射模式 操作的一般步骤依次为：电子枪合轴调整、聚光镜合轴调整、聚光镜消像散、电镜电压中心调整、物镜消像散、中间镜消像散及投影镜合轴。 JEOL-2010 SJTU 电镜合轴 了解TEM电镜基本构造 通常电镜工程师会定期对电镜进行合轴等精确调整，建立了专家系统，若电镜光路偏离很大，可调出专家的初始设置，在这基础上进行微调。 等厚条纹 等倾条纹 明场像示意图 一般暗场像示意图 中心暗场像示意图 弱束暗场像严格地讲也是属于中心暗场像，所不同的是：中心暗场像是在双光束条件下用g:-g的成像条件成像；而弱束暗场像是在双光束的条件下用g:3g的成像条件成像。弱束暗场像主要用于显示缺陷，比如位错像，位错像的分辨率会更高。 奥氏体的明场像和暗场像 [011] （200） 明场像和暗场像举例 刃位错和混合位错在操作中可以采用g·b＝0作为不可见判据，从而判断位错的伯格斯矢量b。 位错的观察 二维晶格像的应用 STEM成像和成分分析 *
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