粒形分析用于磨料生产过程的质量控制摘要.PDFVIP

粒形分析用于磨料生产过程的质量控制 磨料应用 根据客户的偏好和最终用途，粒 进行测定，可以更加精确地分析 形要求存在巨大差异。 不同的粒形以及相似产品之间的 磨料是当两种材料受压接触并相 对移动时，其中可以用于打磨另 一种材料的任何一种非常坚硬、 锋利的材料。可以采用氧化铝 （Al2O3 ）、碳化硅（SiC ）、 SG、CBN、金刚石等各类不同材 料生产磨料。这些材料的硬度以 及锋利的颗粒形状使其具有研磨 作用。 筛目数是磨粒粒径的名称，反映 了筛网上单位英寸内磨粒将通过 的最小孔眼数目，范围可能为4 号到2500 号。粒度（Dv50）可 能为几毫米到小于2 微米不等。 当这些材料融入适合的基质时， 可以用于各种不同用途；例如砂 纸、砂轮、抛光、钢丝锯、镗磨 油石、喷砂等。 图 1: 量化颗粒形状——圆度的计算 不同的用途可能要求不同的颗粒 粒形差异。 形状，而这对磨料性能具有显著 传统的质量控制参数 影响。 磨料生产的国际标准对容积密度 Sysmex FPIA-3000 采用鞘流和 磨料的制造 的测定方法进行了描述。容积密 专利高速图像分析技术来快速分 析粒度和粒形，通常能在2.5 分 度可以说明粒形，但多项其他的 主要的磨料粉碎技术通常包括冲 产品特征也会影响容积密度，如 钟内生成数据。而传统方法采用 击粉碎、压力粉碎、研磨粉碎或 粒度分布、流动性以及表面条 常规显微镜结合图像分析来进行 者上述三种技术的结合。 件。 粒形分析，每份样品可能需要2- 3 小时。 磨粒的生产商可以通过采用不同 形状分析 的粉碎方法影响磨粒的形状，但 Sysmex FPIA-3000 所生成的主 迄今为止，控制粒形仍比较困 最近一种用于快速分析粒度和粒 要形状指数是圆度。它的定义是 难。 形的新型仪器（Sysmex FPIA- 3000 ）上市销售。通过这种仪器 1 FPIA-3000 应用文章 MRK453C-02 与颗粒面积相当的圆形的周长 表 1: 两种不同类型颗粒的圆度 与颗粒本身周长 的比值。颗粒越圆，其圆度就 平均圆度 % 0.85 越接近1。颗粒越长，圆度就 尖锐型颗粒 0.886 26.6 越低。这一概念如图1 所示。 紧实型颗粒 0.927 9.3 测定数据 为了说明这一概念，两种颗粒 类型的圆度如表 1 所示。两种 颗粒类型分别是 1 ）尖锐型颗 粒以及2 ）紧实型颗粒。它们 的扫描电子显微图片参见图2 和图3 。 图 2: 尖锐型颗粒的SEM 图像