低能量v射线射质之研究-中华民国放射线医学会.PDFVIP

中華放射醫誌 Chin J Radiol 2004; 29: 185-190 185 低能量X 射線射 質之研究 涂振邦1,2 陳為立1 朱健豪4 黃文松4 林芳仁5,6,7 簡哲民2,3,8 國立陽明大學　放射醫學科學研究所1 和信治癌中心醫院　醫學物理科2 放射腫瘤科3 核能研究所 保健物理組4 新光醫院　腫瘤治療科5 中國醫藥大學附設醫院　腫瘤治療科6 臺大醫院　腫瘤治療部7 杜克大學醫學中心　放射腫瘤科8 使用 Keithley 6517A 電量計和核研所自製的原級自 量X 射線劑量的國家標準 。 由空氣游離腔測量 PANTAK校正用低能 X 光機產生之低 能量X 射線 （10 kV, 25 kV, 30 kV, 50 kVa, 50 kVb之管 關鍵詞：劑量術，半值層 ，純鍺偵測器 ，能譜 球電壓）的第一及第二半值層 （HVL ），其第一 HVL 分 別為 0.038, 0.171, 0.242, 2.267, 1.013 mm Al ，和國際 度量衡局 （BIPM ）之差異在 3%以 內 ，符合在 ±5%國 際標準誤差範圍內 。由第一及第二半值層之結果可進而 X 光機輸出能量並不是單一能量，而是一個連續的 去算出均勻係數及有效能量 。使用 DSG Model NGP 能譜分佈 [1-3] ，所以要決定其射質時，必須用有效能量 1000-16 之純鍺偵測器量測前述 X 射線能譜 ，經由下列 (effective energy)來表示 [2,4,5] 。有效能量相當於與某一 四項之理論修正，而完成較符合真正X 射線之能譜：(1) 單能光子射束具有相同衰減效果的輻射能量 [2,4,5] ，求 偵測器的本質偵測效率，(2) 特性輻射 k-X射線的逃逸 ， 出有效能量後 ，就可加以應用。 X 光與物質的衰減曲線 (3) 光峰效率，(4) 多頻道能譜儀之能量校正。 10kV之 和物質的線性衰減係數（µ ）有關 ，而有效能量可以用 能譜修正前後，皆無改變。 25 kV 、 30kV 、50kVa 及 單能射束 的µ 來描述 ，同時µ 又和半值層厚度 （HVL ） 50kVb 之能譜在修正前後，有些許的改變。修正後，在 有關 ，所以 X 光射束的有效能量可用 HVL 來表示 [2,4- 低能量 的部份 ，皆有往高能量 的地方做一些偏移 。25 8] 。因此我們就可在 X 光機通稱（nominal ）的各種 kVp kV 及 30kV 之 能譜 ，皆 有 出現 Ge 之特性 kα -X 射線 條件下求得射束之 HVL ，並進而求出相對應的有效能 （9.9keV ）及k β-X 射線 （11.0keV ）。50kVa 及 50kVb 量 。 之能譜 ，因已加上附加濾片 ，所以把低能量的部分過濾 現今國際間有關 X 射線射質標準之各項校正比對 ， 掉 ，所以沒有出現 Ge 之特性 k-X射線 。在建立校正用低 均以 BIPM （Bureau International des Poids et Mesures ） 能 X 光機之 HVL及正確 X 射線能譜之測量後，就可進行 之射質條件作為比對基礎 [7] ，國家游離輻射標準實驗 與 BIPM 低能量 X 射線射質 的比對，進而建立我國低能 室為參加國際性之比對 ，並提供國內乳房攝影 X 射線劑 量之原級校正標準 ，必須要建立 BIPM 低能量 X 射線射 質之劑量校正標準。 X 射線之射質一般皆以半值層來表 示 ，所以 BIPM 之射質標準亦以 HVL 的厚度來相對應 [7] 。因為 X 光的能量分佈是一連續能譜 ，