第六章：原子吸收与原子荧光光度法.PPTVIP

第六章：原子吸收与原子荧光光度法 第六章第一节：概述 原子吸收光谱法（Atomic Absorption Spectrometry, AAS）原子吸收分光光度法 原子荧光光谱法（Atomic Fluorescence Spectrometry, AFS） Atomic Absorption Spectrometry, AAS 原理：根据物质的基态原子蒸汽对特征辐射的吸收作用来进行元素定量分析的方法。 发展历程：19世纪初——1955年定量基础——20世纪60年代的飞速发展——未来的趋势 Atomic Absorption Spectrometry, AAS AASUV-Vis 1．类似：原理——利用物质对辐射的吸收来进行分析的方法 2．差异：机理、实验、仪器 a：机理：UV-Vis测量溶液中分子或离子的吸收，一般为宽带吸收，连续光源。AAS测量气态基态原子的吸收，窄带吸收，锐线光源。 a：机理： UV-Vis测量溶液中分子或离子的吸收，一般为宽带吸收，连续光源。 AAS测量气态基态原子的吸收，窄带吸收，锐线光源。 b:分析过程： AAS：元素的锐线光源发射出特征辐射，试样在原子化器中被蒸发、解离为气态基态原子，当元素的特征辐射通过该元素的气态基态原子区时，元素的特征辐射因被气态基态原子吸收而减弱，经过色散系统和检测系统后，测得吸光度，根据吸光度预备测定元素的浓度线性关系，从而进行元素的定量分析。 UV-Vis c:仪器 AAS UV-Vis 一般分析过程 第二节 原子吸收光谱法的原理 1、原子吸收线 2、基态原子数与原子化温度的关系 3、原子吸收法的测量 原子吸收线 原子吸收线的产生 吸收线的轮廓与变宽 1．吸收定律 2．吸收线的轮廓和变宽 2.1自然宽度 2.2多普勒变宽 2.3碰撞变宽 原子吸收线的产生——基态原子的产生MX试样溶液雾粒喷入高温火焰中发生蒸发脱水、热分解原子化、激发、电离、化合等一系列过程 脱水 气化 1） MX(湿气溶液) MX(s) MX(g) 原子化 2） MX(g) M(g) ＋X(g) 激发 电离 3) M(g) M*(g) M ＋ ＋e 化合激发 化合 激发 MOH* M(g) MO MO* OH 原子吸收线的产生——吸收光谱的产生 原子吸收光谱与原子发射光谱 的产生是互相联系的两个相反过程。 光的发射是原子中外层较高能 级（激发态）的电子跃迁至较低能 级（低激发态或基态）时所产生的 电磁辐射。 光的吸收是当基态原子受到外 界一定能量作用时，原子外层电子 就会从基态向较高能级跃迁，这时 就要吸收一定频率的辐射。 即一种元素的原子不仅可以发射一系列特征谱线，也可以吸收与发射波长相同的特征谱线（图1） 原子吸收线的产生——吸收线的产生 吸收线的轮廓与变宽——吸收定律 吸收线的轮廓与变宽——吸收线的轮廓和变宽 不同元素原子吸收不同频率的光，透过光强度对吸收光频率作图，如下图： 2.1自然宽度——（ △f n） 没有外界影响，谱线仍有一定的宽度称为自然宽度。它与激发态原子的平均寿命有关，平均寿命越长，谱线宽度越窄。不同谱线有不同的自然宽度，多数情况下约为10-5nm数量级。 指原子发生能级间跃迁时由于激发态原子使命不同而产生的变宽。 2.2多普勒变宽——热变宽（ △f D ） 是由于原子受热后在空间作无规则运动产生多普勒效应所引起的变宽。其值与原子量的平方根成反比，与火焰温度的平方根成正比。 2.3碰撞变宽——压力变宽（ △f L ） 原子蒸汽中的气体压力升高会使粒子之间的相互碰撞机会增加，而引起吸光原子与蒸汽中的原子或分子的能级稍有变化，使吸收频率变化而导致谱线变宽。 在压力变宽中，凡是同