第3部分数字电子技术基础实验.PDFVIP

第 3 部分 数字电子技术基础实验 第 3 部分 数字电子技术基础实验 3.1 TTL 与非门参数的测试 一、实验目的 1. 掌握 TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法。 2. 掌握 TTL 器件的使用规则。 3. 熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能和使用方法。 二、实验预习要求 1. 了解数字实验箱的基本结构及使用方法。 2. 了解TTL 与非门主要参数的定义和意义。 3. 熟悉各测试电路，了解测试原理及测试方法。 4. 熟悉 TTL 与非门 74LS00 的外引线排列。 5. 自拟实验步骤和数据表格。 三、实验原理 1. TTL 与非门的主要参数 TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点,因而 得到了广泛的应用。 （1）输出高电平VOH 输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。空载时，VOH必须 大于标准高电平（VSH=2.4 V ），接有拉电流负载时，VOH将下降。测试VOH 的电路如图 1.1 所示。 图 1.1 VOH 的测试电路 图 1.2 VOL 的测试电路 （2 ）输出低电平VOL 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。空载时，VOL必须低于标准 低电平（VSL=0.4V ），接有灌电流负载时，VOL将上升。 测试VOL 电路如图 1.2 所示。 （3 ）输入短路电流IIS 输入短路电流IIS是指被测输入端接地，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流。前级输 出低电平时，后级门的IIS就是前级的灌电流负载。一般IIS ＜1.6mA 。 测试IIS 的电路见图 1.3 所示。 （4 ）扇出系数N 扇出系数N是指能驱动同类门电路的数目，用以衡量带负载的能力。图 1.4 所示电路能测试输 出为低电平时，最大允许负载电流IOL ，然后求得N ＝IOL/IIS 。一般N ＞8 的与非门才被认为是合格的。 - 82 - 电子技术基础实验指导 图 1.3 IIS 的测试电路 图 1.4 扇出系数N 的测试电路 2. TTL 与非门的电压传输特性 利用电压传输特性不仅能检查和判断TTL与非门的好坏，还可以从传输特性上直接读出其主要 静态参数，如 VOH 、 VOL 、 VON 、 Voff 、 VNH和 VNL ，如图 1-5 所示。传输特性的测试电路如图 1.6 所示。 图 1.5 TTL 与非门的电压传输特性 图 1.6 TTL 与非门的电压传输特性测试电路 从图 1.5 中可知： 开门电平VON ：是保证输出为标准低电平VSL 时，允许的最小输入高电平值。一般VON ＜1.8V。 关门电平VOFF ：是保证输出为标准高电平VSH 时，允许的最大输入低电平值。 高电平噪声容限VNH ：VNH=VSH-VON=2.4V-VON 低电平噪声容限VNL ：VNL = VOFF-VSL=VOFF-0.4V 3. 与非门的逻辑功能 与非门的逻辑功能如表 1.1 所示，只需按真值表逐项验证即可。 本实验选用的 TTL 与非门为 74LS00，它 的外引线排列如图 1.7 所示。 表 1.1 TTL 与非门功能表 A B L 0 0 1 0 1 1 1 0 1