体缺陷性质对晶硅电池暗I-V特性的影响.PDF

第35 卷 第10期 电 子 元 件 与 材 料 Vol.35 No. 10 20 16 年10 月 ELECTRONIC COMPONENTS AND MATERIALS Oct. 20 16 研究与试制 体缺陷性质对晶硅电池暗I- V 特性的影响 陆晓东，宋 扬，王泽来，赵 洋，张金晶 （渤海大学 新能源学院，辽宁 锦州 121000） 摘要: 采用有限差分法等方法研究了晶硅材料体内不同类型缺陷对晶硅电池暗 I- V 特性的影响。研究表明：晶 硅电池暗I-V 特性的自然对数曲线可分为三个基本区域；随受主型、施主型和复合中心型缺陷密度的增加，电池的 开路电压、短路电流、填充因子和效率等参数均发生退化；在反向偏压下，受主型缺陷的密度增加，不会引起不同 偏压下晶硅电池暗电流的明显变化，但施主型和复合中心型缺陷密度大于某阈值时，会引起各偏压下晶硅电池暗电 流出现明显变化；在正向偏压下，受主型缺陷可很好地保持晶硅电池暗I-V 特性曲线基本性质，但施主型和复合中 心型缺陷密度大于某阈值时，会导致晶硅电池暗I- V 特性曲线的性质发生明显变化。 关键词: 晶硅电池；有限差分法；晶体缺陷；暗I- V 特性曲线；理想因子；总电流密度 doi: 10.14106/ki.1001-2028.2016.10.009 中图分类号:TM914.4 文献标识码:A 文章编号:1001-2028 （20 16）10-0039-06 Influences of properties of volume defects on dark I- V characteristics of crystalline silicon solar cell LU Xiaodong, SONG yang, WANG Zelai, ZHAO Yang, ZHANG Jinjing (Collage of New Energy, Bohai University, Jinzhou 121000, Liaoning Province, China) Abstract : The influences of different types of defects inside crystalline silicon (c-Si) material on the dark I- V characteristics of c-Si solar cells (c-Si SCs) by solving semiconductor device equations using finite difference method. The results show that the natural logarithm curves of the dark I- V characteristic of c-Si SCs can be divided into three fundamental regions. The output parameters of c-Si SCs, such as open circuit voltage, short circuit current, filling factor and efficiency, are degraded under the reverse bias voltage conditions, the dark current values of c -Si SCs under different bias voltages are unch