X荧光压片法在硅铁多元素分析中的应用.pdfVIP

2007年 12月 武钢技术 Dec．2007 第45卷第6期 WISCO TECHNOLOGY Vo1．45 NO．6 ·21· X荧光压片法在硅铁多元素分析中的应用 许厚国 (武钢研究院，湖北 武汉 430080) 摘 要：采用x荧光压片法分析硅铁样品的方法，以一批硅铁标样和内控标样建立硅铁多元素分析曲 线，以二次曲线方法应用于硅铁多元素的测定，取得满意的效果。 关键词：X射线荧光分析；压片法；硅铁 中图分类号：TG115．22 2 文献标识码：B 文章编号：1008～4371(2007)06—0021—03 Application of fluorescence X_。ray film。。pressing method in multi_。element analysis of silicoferrite XU Hou—guo (Research Development Center of WlSCO，Wuhan 430080，China) Abstract：The fluorescence X—ray film—pressing method is adopted to analyze the silico— ferritesample．In SO doing a lot of silicoferrite specimens arid intracavity specimens are used tO establish a multi——element analysis curve of the silicoferrite in order tO apply the secondary analysis method in the measurement of the mulit—element of the silicoferrite． Very satisfactory results have already been achieved by the method． Key words：fluorescence X—ray analysis；film—pressing method；silicoferrite 传统的硅铁多种元素分析方法主要采用湿法 (2)MP一50型压力机。 化学分析，例如硅铁中的si的分析就有容量法、 1．2 测量条件 重量法等。这些分析方法繁琐，结果往往不够准 测量条件见表1。 确。优质硅铁如特硅等品种，要求分析的元素多， 1．3 样品制备 对分析准确度和分析速度都有很高的要求，原有 经试验，在MP一50型压力机压板上，置一直 的化学分析方法不能适应硅铁生产的需要。x荧 径42 mm、高5 rnm的塑料环，将研磨至200目的 光压片法具有快速分析大批量样品的特点，通过 硅铁样品装入塑料环内，在压力30 t、静压10 S 试验，以x荧光分析二次校正工作曲线为基础， 下，将试样压成粉末圆片待测。 硅铁粉末样品采用直接压片法，成功应用于硅铁 合金的多元素分析。经过多年的应用实践和数万 2 结果与讨论 件样品的分析，证明该方法完全可以满足硅铁大 2．1 标样的选择 批量生产的要求。 选取一批硅铁标样和部分有化学结果的硅铁 1 试 验