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主要要求 准则1 准则2 一点落在A区以外。 点出界就判异 准则3 准则4 连续6点递增或递减 准则5 准则6 连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外 准则7 准则8 连续15点C区 中心线上下 p图(不合格品率控制图) p图用于判断生产过程不合格品率是否处于或保持在所要求的受控状态;它虽然适用于样本大小ni不相等的情况,但ni也不宜相差太大,否则控制图的上、下不是一条直线,而是阶梯式的。 例 例: 为控制某无线电元件的不合格品率,而设计p图。生产过程质量要求为平均不合格品率不超过2%. 例 例-第一步 1、收集数据; 在5M1E充分固定,并标准化的情况下,从生产过程中收集数据。数据见下表所示。 例-第三步 3、计算总平均和极差平均 例-第四步 4、计算控制线; 系数A(n)数值表 上式中A2,D4,D3均从控制图系数表中查得:当n=5时,A2=0.577 D30 D4=2.115 例-第五步 5、制作控制图; 在方格纸上分别作 图和R图,两张图必须画在同一页纸上,这样以便对照分析。 图在上,R图在下,轴纵在同一直线上,横轴相互平行,并且刻度对齐。本例由于R图的下限为负值,但极差R不可能为负值,所以R的下控制界限线可以省略。 例-第六步 6、描点; UCL= 49.553 CL= 49.5068 LCL= 49.4606 x 图 UCL= 0.1692 CL= 0.08 R 图 例-第七步 7、分析生产过程是否处于统计控制状态; 利用分析用控制图的判断规则,分析生产过程是否处于统计控制状态。本例经分析,生产过程处于统计控制状态。 例-第八步 8、计算过程能力指数; 求Cp值 式中d2(n)查控制图系数表,n = 5时,d2(n)=2.326 求修正系数k K= 例-第八步 8、计算过程能力指数; 求修正后的过程能力指数Cpk 倘若过程质量要求为过程能力指数不小于1,则显然不满足要求,于是不能将分析用控制图转化为控制用控制图,应采取措施,提高加工精度。 Cpk = (1- k) Cp = (1 – 0.068 )×0.97= 0.90 例-第九步 9、过程平均不合格品率; 据过程平均不合格品率P与过程能力指数的关系,计算P值如下: 分析用控制图 分析用控制图用于分析生产过程是否处于统计控制状态。分以下四点考虑: 若经分析后,生产过程处于统计控制状态且满足质量要求,则把分析用控制图转为控制用控制图; 2. 若经分析后,生产过程处于非统计控制状态,则应查找过程失控的异常原因,并加以消除,去掉异常数据点,重新计算中心线和控制界限线; 3. 若异常数据点比例过大,则应改进生产过程,再次收集数据,计算中心线和控制界限线; 4. 若经分析后,生产过程虽然处于统计控制状态,但不满足质量要求,则应调整生产过程的有关因素,直到满足要求方能转为控制用控制图。 控制用控制图 控制用控制图由分析控制图转化而成,它用于对生产过程进行连续监控。 按照确定的抽样间隔和样本大小抽取样本,计算统计量数值并在控制图上描点,判断生产过程是否异常。 控制用控制图在使用一般时间以后,应根据实际情况对中心线和控制界限线进行修改。 控制用控制图的判断规则 控制图用控制图上的点子同时满足下面的规则,才认为生产过程处于统计控制状态。 规则1:每一个点子均落在控制界限内。 规则2:控制界限内点子的排列无异常现象(参见分析用控制图判断规则2) 2000.6.1 控制图处于控制状态的分析 1、控制图上的点子不超在控制界限即在控制范围内; 以上的补充: 连续25点以上处于控制界限内; 连续35点中,仅有1点超出控制界限; 连续100点中,不多于2点超出控制界限; 虽合格,已经要注意异常点 控制图的判断规则(2) 分析用控制图的判断规则2:没有处于控制状态 国标GB/T 4091-2001《常规控制图》中规定了8种判异准则。 为了应用这些准则,将控制图等分为6个区域,每个区域宽1σ,分别标识为A、B、C、C、B、A。 需要指明:这些判异准则主要适用于X图和单值X图,且假定质量特性X服从正态分布。 连续9点落在中心线同一侧 连续14点相邻点上下交替 连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外 连续8点在中心线两侧,但无一在C区中 控制图的基本模式 3σ 3σ 控制上限UCL Upper Control Limit 控制下限LCL Lower Control Limit 中心线CL Central Limit 样品编号(或取样时间) 质量特性 x 2σ 2σ X-Rs图(单值-移动极差控制图) x-Rs图适用于一次只能测得
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