固体光学-晶体光学7.ppt

实际测量时，可不断地改变外加电压，记录光强相应的变化，作出I—V曲线。曲线的峰值处所对应的电压即为半波电压Vn. 一. 光学性质测量 1. 折射率 2. 光学透过性 3. 电光性能 4. 光折变性质、5.介电参数的测量 二. 铁电性质－电滞回线测量 三. 介电性质 四. 压电性质测量 1. 准静态法 2. 光学相干法 3. 谐振－反谐振法 五. 热释电性质 铁电性质 铁电性质 电滞回线(基本概念) 在较强的交变电场作用下，铁电体的极化强度P随外电场E呈非线性变化，在一定温度范围内呈现滞后现象。如图所示，这个P-E回线称为电滞回线。 线段OA代表的电场可使极化等于零，称为矫顽场Ec (coercive field)。线段OB代表的极化称为剩余极化Pr (remanent polarization) 。在图中FD线段处，极化与电场成正比，将FD反向延长，交极化轴于C，OC代表的极化称为自发极化Pr (spontaneous polarization) 。 铁电性质 电滞回线(测量方法) 图中为改进的Sawyer-Tower电路。其中标准电容C0远大于试样电容Cx。晶体样品电容Cx一般小于5nF，C0可选为10mF。压敏电阻和稳压电阻可防止发生高压击穿现象。经过TL061后的输出电压为C0两端电压的R1/R2倍，通过R1可调节电压放大倍数。 铁电性质 电滞回线(测量方法) 由于标准电容C0和试样Cx串联，二者瞬时电荷在任何时间总相等。假设标准电容器C0两端的电压为V1(t)，瞬时电荷为Q(t)；试样的电极面积为A，瞬时电位移为D(t)，瞬时电极化强度为P(t)，则有 试样上的瞬时电极化强度P(t)可表示为 测试过程中，只要测得电压V1(t)，便可得知P(t)。 铁电性质 电滞回线(测量方法) 测试系统中所需外部设备： (1) 超低频信号发生器。可产生0.1~1Hz的三角波信号。 (2) 高压放大仪。可将信号发生器的电压放大至数千伏，其放大倍数根据测试材料的矫顽场选择，一般要求放大后的电压为-2000V~+2000V。 (3) 信号采集设备。可选为示波器，也可经AD数据采集卡后利用计算机采集。 一. 光学性质测量 1. 折射率 2. 光学透过性 3. 电光性能 4. 光折变性质 二. 铁电性质－电滞回线测量 三. 介电性质 四. 压电性质测量 1. 准静态法 2. 光学相干法 3. 谐振－反谐振法 五. 热释电性质 主要内容 介电性质 测量设备 变温扫频介电性能测试仪。左上为加热炉，左下为温控仪，右侧为MODEL TH2816型宽频LCR数字电桥阻抗测量仪(常州同惠电子有限公司)，测试频率范围20Hz-150kHz。 Agilent 4285A型阻抗分析仪，频率范围为75kHz-30MHz，可以计算机控制扫频，常用于测试压电单晶各个模式压电振子的谐振、反谐振频率。 介电性质 研究方法 测量介电常数时，通常是把样品做成一个平板电容器，在低频率(1kHz)下测其电容，可算出自由电容率eT；在高频率(20MHz)下测其电容，算出夹持电容率eS。 某晶体的介电常数随温度变化曲线 通过测量介电常数随温度的变化关系，可以得知晶体的相变特性。通常介电常数最大峰对应着铁电－顺电相变，较低温度的介电峰则为铁电－铁电相变。对于一阶相变，升温测量与降温测量的介电峰不重合，二阶相变则重合。 一. 光学性质测量 1. 折射率 2. 光学透过性 3. 电光性能 4. 光折变性质 二. 铁电性质－电滞回线测量 三. 介电性质 四. 压电性质测量 1. 准静态法 2. 光学相干法 3. 谐振－反谐振法 五. 热释电性质 压电性质测量 压电性质测量 准静态法 中科院声学所生产的ZJ-3A型准静态压电常数d33测试仪 该仪器的优点是可测出压电系数的极性，由此可以判断晶体光轴的正负方向。测量时可使光轴方向沿着施力方向，若压电系数为正，则晶体光轴向上；若为负，则向下。 压电性质测量 光学相干法 晶体上的反射镜每移动l/ 2 的距离就会产生一个光干涉的拍信号。因此根据光拍信号的个数就可以计算出压电陶瓷片伸缩的距离。 压电性质测量 光学相干法 现设压电陶瓷片上加有正弦激励电压为 动镜Mirror产生振动,其位移为 式中d33为压电系数，Am为振动位移峰值。 对于光拍信号，动镜在位移最小处速度最大，光拍最密；反之，在位移最大处速度最小，光拍最疏。可见，随着时间的变化，光拍信号是一个具有一定周期性的变频信号，其周期为原振动信号周期的1/ 2