桥接故障的物理提取和高效测试.pdfVIP

第 l9卷 第4期 集关大学学报 (自然科学版) Vo1．19 No．4 2014年7月 JournalofJimeiUniversity(NaturalScience) Ju1．2014 [文章编号】1007—7405(2014)04—0314—07 桥接故障的物理提取和高效测试 韦素芬 (集美大学信息工程学院，福建 厦门361021)) [摘要]为桥接故障候选点建立7种基于版图的物理模型，给出提取故障候选点的方法．为了更有效 地利用芯片设计周期，减少测试图形数量，提出一种以确定性桥接故障测试为主体 ，有效结合内置多重固 定测试的综合型测试方法．用90nm的两个芯片进行 自动测试图形生成和验证，从生成测试图形的时间长 度、测试图形的数量、桥接故障测试覆盖率3个主要方面来对比，验证了该综合型测试方法的有效性． [关键词]桥接故障；故障候选点；确定性桥接故障；测试覆盖率 [中图分类号]TN407；TP391．7 [文献标志码]A PhysicalExtractionandEfficientTestforBridgingFaults WEISu—fen (SchoolofInformationEngineering，JimeiUniversity，Xiamen361021，China) Abstract：Thispaperdefines7physicalmodelsfordeterministicbridgefaultATPG andverificationby extractingthemostprobablebridgingfaultscandidatesbaseduponproximityoflinesandvia．Italsopresents theextractionmethodofrfauhcandidates．Tomakefulluseofthedesigncycle，andreducetestpatterns，an efficienttestmethodologyisintroduced．Itisanintegratedsolution，andthemainprocedureisdetemr inistic bridgefaulttest，combiningtheadvantagesofEMDfaultATPG．Th edetailsofthemethodarediscusseda— longwithATPGresuhsfortwo90nm ICs．Bycomparingexperimentalresultsfrom ATPGofdifferentmeth— ods，wedemonstratethattheproposedmethodcanachieveshorterATPG time，smallertestpattern volume， andhigherbridgingfaulttestcoverage． Keywords：bridgingfault；faultcandidates；detemr inisticbridgefault；testcoverage O 引言 当今，对于多数集成电路设计公司来说，桥接故障的测试仍旧是一个较新的领域，甚至桥接故障 测试覆盖率仍未被纳入产品测试的要求中．但是，由于工艺尺寸减小和密集度增大，势必引入更多的 桥接故障，这种趋势会使得桥接故障测试 日益重要，尤其对于那些应用于医疗电子和汽车电子领域 的、要求零缺陷的集成电路芯片． 作为传统固定型故障模型，J7＼重『固定测试的测试对象是芯片中所有的固定故障候选点，其测试结 果可以覆盖一部分桥接故障 大量的研究结果 表明：随着Ⅳ的增大，桥接故障测试覆盖率会有 小幅提高，但提高幅度与Ⅳ的增大远不成比例，并且Ⅳ增大的代价是需要大量测试图形，经济性差． [收稿15t期]2014—04一l5 [修回日期]2014—06—09 [基金项目]福建省科技计划重点项 目 (2013H0035)；集美大学李尚大学科建