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实验架构之架设(说明过程所遭遇之困难与解决方法)-专题周记系统
實驗架構之架設
說明過程所遭遇之困難與解決方法( )
本專題所提出的光學架構之設計如圖1所示 ,實驗架構之組成包
含有 :一個波長為473 nm的二極體雷射,一個 40 X 物鏡,5 μm的
pinhole ,一個焦距為100 mm的消色差透鏡作為準直透鏡,兩個節距
為 0.2822 mm 大小的線性光柵,一個焦距為900 mm待測透鏡,一個
解析度為 0.05 μm的電控移動平台 (Sigma Koki/SGSP(MS)26-100)用以
產生外差頻率 =10 Hz( v =2.822 mm/s) ,以及一個具有8-bit 灰階和影
h
像解析度 1280x1024的 CMOS相機(Basler/A504k) 。CMOS的拍照頻
f a
率(frame rate) =150 fps ,曝光時間=1 msec ,總記錄時間=1 sec ,
T
s
記錄在不同時間下的外差 moiré訊號。 表1為實驗儀器設定表 。
圖 1透鏡焦距量測系統。其中 G :光柵;MO :物鏡;PH :針孔;M :
電控移動平台; C :CMOS相機;L1 :成像透鏡;L :待測透鏡;
L2 :相機鏡頭。
表 1實驗儀器設定表。
外差頻率 h 10 Hz
光柵移動速度 v 2.822 mm/s
CMOS拍照頻率 fs 150 fps
曝光時間 t 0.001 sec
總記錄時間 T 1 sec
在整個實驗架構中,最重要也是最繁瑣的過程就是準直光線的架
設,因為光線的準直以及擴束光的品質將會影響到實驗結果,因此在
架設過程中首先需要建立準直光線。
建立準直光的過程中,需要先確認雷射光進入的高度以免之後光
線無法通過架設在電控移動平台上的準直透鏡以及光柵,確認高度之
後就是先初步的調整 光線的準直。調整光線的方法就是先將一紙板直
立固定在滑軌上並拉至稜鏡前面,之後將雷射光透過稜鏡把光線打至
紙板上,在紙板上將光點位置做上記號。之後再將紙板由滑軌拉離稜
鏡,檢視光點位置是否有變化,若光點與在稜鏡前的位置有所不同,
則調整稜鏡使光線對準光點。對準後再將紙板拉回稜鏡前,檢視光點
位置是否有所偏離,反覆進行此步驟,直到紙板由滑軌前方拉至滑軌
後方的過程中光點的位置沒有變化為止。
在確認光線準直之後,接著是進行光線的擴束,將調整好的 準直
光通過一個40 X 物鏡以及5 μm的 pinhole 形成一個均勻平面波 ,由
於pinhole的 大小只有 5 μm ,所 以在調整 光束通過時要 非常細心,要
不斷的調整 pinhole的位置使 光線通過並觀察 光線打至紙板上是否為
均勻的 平面波,若為均勻平面波的話 ,在紙板上的 光會呈現 出一個同
心圓。在此過程中只能 不斷的調整 pinhole 並觀察 紙板上的 光束,沒
有其他的捷徑。
在均勻平面波也調 製完成後,就是在光路 上架設 一個焦距為100
mm的消色差透鏡作為準直透鏡 ,一樣先利用紙板來確認 光線是否準
直。在確認準直之後則是移動在電控 平移台 上的 準直透鏡,使 光線成
為擴束平行 光,擴束 平行 光就是通過準直透鏡後的 光束,不會因為距
離而改變 光束的 大小,使實驗結果不會因為距離而有所影響。檢查是
否為擴束 平行 光的 方法就是在紙板上畫 上光束的 大小,接著移動 紙板
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