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AlInN光电薄膜的研究进展
· 132 · 材料导报:综述篇 2010年4月(上)第24卷第4期
AIInN光电薄膜的研究进展
芦 伟 ,徐 明 ,董成军 ,魏 屹
(1 四川师范大学固体物理所低维结构物理实验室,成都 610068;2 中国科学院国际材料物理中心,沈阳 110016)
摘要 AIInN三元合金是优良的llI—V族氮化物半导体材料,具有优 良的光学和电学性能,在光电子器件应用
方面具有广阔的应用前景。详细评述了近年来AIlnN薄膜材料在生长技术、晶体结构、表面形貌、热学特性、光电特
性等方面的研究,为AIlnN三元合金在光电方南的基础和应用研究提供 了重要参考。
关键词 AIInN薄膜 制备方法 特性 应用
中图分类号:0484
ResearchProgressinAilnN opt0electr0nicFilms
LUWei,XU Ming ,DONGChengjun,WEIYi
(1 IabforLow-dimensionalStructurePhysics,InstituteofSolidStatePhysics,SichuanNormalUniversity,Chengdu610068;
2 InternationalCenterforMaterialPhysics,ChineseAcademyofSciences,Shenyang110016)
Abstract AlInN isoneofIII—V nitridesemiconductormaterialswithexcellentopticalandelectricalproperties,
andhasvastpotentialinphotoelectronicdeviceapplication.Therecentstudiesonthegrowthmethods,crystalstruc—
tures,surfacemorphologies,themr alcharacteristics,andoptoelectronicpropertiesofAIInN filmswerereviewedin
detailinthisarticle,whichispromisingforexploringapplicableUI—V nitridesemiconductormaterialsinbasicand/or
appliedoptics,electronics,andopto-electronics.
Keywords AIInN films,growthmethods,properties,application
AIInN薄膜生长主要有磁控溅射外延(MSE)、金属有机气相
0 引言
外延(MOVPE)和分子束外延 (MBE)3种方法。其中MSE
A1一In.N是Ⅲ族氮化物半导体材料,一般 以直接带隙 法是最早用来生长 AlInN的方法,与另 2种方法相 比,具有
纤锌矿结构存在 ,其光谱覆盖了红外到紫外波段。In含量为 薄膜附着力强、沉积速率高、组分操控性好n ]、成本低廉等
l5 420 D-s3时,AIInN可与 GaN达到晶格匹配 ,因此可 优点。特别是 MSE允许在相对低的温度下生长薄膜从而避
以在GaN层上生长无应变 AIInN薄膜。同时,AIInN还是 免发生相分离,很适于AIInN生长。然而,与高温生长相比,
比A1GaN更优 良的光 电二极管材料。虽然 Al。Ino.N与 MSE还是很难在组分较大范围内生长出高质量 AlInN薄
AlGa一N具有相同的结构和带隙,但由于它与GaN晶格匹 膜,且容易残留氧杂质_1,并且该生长法还有导致表面粗糙
配,引入界面缺陷更少,所以Al。_8。In0.N更适合作GaN基 度增大等缺点。
LD
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