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* 数字电子技术基础 上一页 下一页 返 回 * 第二章 电磁场基本方程 实验一 门电路的测试 一、实验目的 1、学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法。 2、掌握TTL与非门逻辑功能和主要参数的测试方法。 二、实验仪器与器件 1、元器件：74LS0，74LS20，100Ω、10kΩ电阻，电位器等。 2、电子线路实验台（数字电压表，数字毫安表，+5V直流稳压电源）。 三、实验原理 1、集成逻辑门电路的管脚排列： （1）74LS20（4输入双与非门）：Y=（ABCD）′ 74LS20 1 7 8 14 VCC GND 1A 1B 2A 2B 1C 1D 1Y 2C 2D 2Y NC NC VCC表示电源正极，GND表示电源负极；NC表示空脚。 （2）74LS00（2输入四与非门）：Y=（AB）′ 74LS00 1 7 8 14 VCC GND 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 3A 3B 3Y 4A 4B 4Y 2、TTL与非门的主要参数有： 导通电源电流ICCL，低电平输入电流IiL，高电平输入电流IiH，输出高电平VOH，输出低电平VOL，阈值电压VTH等。 注意：不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。 3、检测集成门电路的好坏的简易方法： （1）在未加电源时，用欧姆表检查各管脚之间是否有短路现象； （2）加电源，用直流电压表首先检查集成电路上是否有电，然后再根据门电路的逻辑功能检查其输出电平。 例如：与非门的逻辑功能是有0出0，全1出1。 对于TTL与非门，若将全部输入端悬空测得输出电压为0.1V左右； 将任一输入端接地测得输出电压约为3V，则说明该门是好的。 四、实验内容与步骤 1、将74LS20加上+5V的直流电压，检查集成门电路的好坏。 2、TTL与非门主要参数的测试 （1）导通电源电流ICCL。 测试条件：VCC=5V，输入端悬空，输出空载，如图（1）。 图（1） 图（2）
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