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可应用於软性电子的TFT电路设计技术之开发--子计画
行度
路
六 數路
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行政院國家科學委員會補助專題研究計畫成果報告
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※ 可應用於軟性電子數位電路測試及容錯技術之開發 ※
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計畫類別:□個別型計畫 ■整合型計畫
計畫編號: 95-2220-E-002-022
執行期間: 95 年 8月 1日 至 96 年 7月 31日
計畫主持人: 李建模
共同主持人:李建模
計畫參與人員:鄭啟玄,沈學聰
國立臺灣大學電子工程學研究所
執行單位:
中 華 民 國 95 年 5 月 24 日
1
will be able to manager the errors and let the
1. 中文摘要
system work correctly. Then the reliability will
第一部份為軟性電子製程之自我偵錯設 be higher.
計:四位元全加法器,此偵錯技術主要是為了 3-N code algorithm is applied in this
可撓曲性的軟性電子電路。如果電路中有元件 technique: multiply the input data by 3 and
或導線遭受折疊或暫時故障而造成輸出錯誤 divide the output data by 3. For example, if an
時,便可以送出訊號告知此電路目前是輸出錯 3+5 operation is required, it can multiply the
誤的。此技術將有助於大型電路設計的錯誤訊 two inputs by 3 and then adds them. Finally
號容錯。第二部份為軟性電子製程之可測試式 the output will be divided by 3 and the result
非同步電路:掃描鏈的設計。雖然非同步電路 value is the required output (Figure-1).
沒有時脈訊號的控制,但我們依然可以利用非
同步電路傳送訊號的原理與特徵,在其中插入
掃描鏈來輸入測試訊號與擷
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