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SOC的可测性设计.pdf
第21卷 第3期 固体电子学研究与进展 V o l. 21,N o. 3
2001 年 8 月 R ESEA RCH PRO GR ESS O F SSE A ug. , 2001
SOC 的可测性设计
梁 宇 韩 奇 魏同立 郑 茳
( 东南大学微电子中心, 南京, 210096) (摩托罗拉苏州设计中心, 215011)
收稿,收改稿
( )
摘要: SOC 片上系统 由于设计周期短、可重用性好、可靠性高等优点而被广泛应用。对于
( ) 的规模及复杂性带来了诸多挑战, 如多时钟域问题、嵌入式模块的不同测
D FT 可测性设计 , SOC
试方法、引脚的有限性等等。文中将就这些问题结合实例讨论一种可配置的系统D FT 方法。
关键词: 片上系统; 可测性设计; 超大规模集成电路; 扫描测试
中图分类号: TN 407 文献标识码:A 文章编号: 100023819 (2001) 032246207
The M ethodology of D FT for SOC
L IAN G Yu HAN Q i W E I Tongli
( )
M icroelectronic Center S ou theast U niversity ,N anj ing , 210096, CH N
ZH EN G J iang
( )
M otorola E lectronic L TD , S uz hou B ranch , 215011, CH N
Abstract: SOC ( System on ch ip ) becom es popu lar becau se of the reu sab ility ,
2 2 . ,
sho rt tim e to m arket and reliab ility A t the sam e tim e SOC b ring m o re challenge to
2 , 2 , 2 .
test w h ich includes m u lti clock dom ain co re based design p in lim ited and etc A
configu rab le system level D FT so lu tion fo r SOC is p resen ted th rough a real life
.
case
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