0609 电子产品快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策分析_可靠性年会06_.pdfVIP

电子产品快速瞬变脉冲群测试的失败原因和对策分析 朱文立 （信息产业部电子第五研究所，广东广州510610） 摘 要：本文先就电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法进行了简要介绍，然后综合 其他研究者的成果及笔者的实践经验针对快速瞬变脉冲群对电子产品不同影响特点提出了相应的对 策方案，以方便电子产品设计人员及电磁兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善。 关键词：电子产品；电磁兼容；快速瞬变脉冲群；设计；对策 1 引言 电子产品的电磁兼容符合性目前已经成为国内外产品认证的一个重要组成部分，这也大大 促进了电磁兼容检测标准、检测技术和设计技术的发展。长期的电子电气设备抗扰度试验的经 验表明，有必要对具有较高重复频率的快速瞬态试验进行模拟以考察敏感设备的该项抗扰性 能，为了保证大家试验结果具有准确性和可比性，IEC 制定了相关的电快速瞬变脉冲群抗扰度 试验标准 IEC61000-4-3 《电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群（EFT ）抗扰度试验》 （我国将该标准等同转化