材料研究方法研究生课程期末总结.docVIP

1.根据IUPAC定义，多孔材料是如何分类的? 多孔材料分为微孔材料、介孔材料、大孔材料。 2.N2吸附-脱附理论中，有哪些计算比表面积和孔径的理论模型，都是基于怎样的假设? Langmuir吸附，单分子层吸附，物理吸附； BJH，HK，BdB，DH，DA，SF，NLDFT等方法 3.材料的哪些物理参数可通过N2吸附-脱附测试获得? 孔径、孔容、比表面积、孔径分布等参数 4.XRD测试过程中需主要调整哪些参数以获取准确的测试结果？ 狭缝宽度、扫描速度、时间常数、加速电压与电流 5.XRD主要测试材料的哪些参数? 物相-晶体结构、晶体参数-晶胞参数、结晶度-纯度与含量、晶粒取向、纳米晶粒大小 6.XRD测试方法有何特点？ X射线物相分析特点： ①鉴定可靠，因d值精确、稳定； ②直接鉴定出物相，并确定物相的化合形式； ③需要样品少，不受晶粒大小的限制； ④晶体结构相同、晶胞参数相近的物相，有相似的衍射花样； ⑤不能直接测出化学成分、元素含量； ⑥对混合物相中含量较少的相，有一定的检测误差。 X衍射分析法特点： ⑴非破坏性和大面积上的均匀性； ⑵对结构和缺陷的灵敏性； ⑶对成分、组成、结构和缺陷等参量单一对应性和可定量测量性； ⑷制样简单且代表实际使用材料的真实性。 7.电子束和固体样品作用时会产生哪些信号？扫描电子显微镜（SEM）主要用哪两种信号来成像？ 电子束和固体样品作用时会产生信号①制样简单； ②景深大，适用于粗糙表面和断口的分析观察，图像富有立体感、真实感，易于识别和解释； ③放大倍数变化范围大，可15~80万倍； ④ 具有相当的分辨率，一般为1~3nm； ⑤可进行多功能分析（如与X射线能谱仪配接，可在观察形貌的同时进行微区成分分析）； ⑥可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验，观察各种条件下的相变及形态变化等； ⑦可通过电子学方法方便地控制和改善图像的质量。 9.SEM在分析样品时，主要需要考虑调整哪些参数以获取真实的样品信息？ 加速电压、电子速减速、工作距离、光阑、扫描模式、探测器、制样 10.场发射扫描电子显微镜（FESEM）与一般SEM有何区别，它又有何优势？ 用强电场使金属、氧化物、硼化物发射电子的原理，可以制造高亮度的TEM或SEM的电子枪，称场发射电子枪。 FESEM的主要特点是电子枪亮度高，分辨率高，并可在低加速电压下观察不导电试样。FESEM的电子枪真空度要求高（10-8Pa）。 11.EPMA主要进行材料的哪些参数分析? EPMA：成分分析，形貌观察。以成分分析为主，主要用WDS进行元素成分分析，出射角大、有OM，电流大，有较成熟的定量方法，所以定量结果准确度高。 真空腔体大，成分分析束流大，所以电子光路、光阑等易污染，图像质量下降速度快，EPMA二次电子像分辨率约为6nm。 12.在进行EPMA分析时，需主要注意哪些操作参数，包括制样与样品分析等？ 加速电压、电子穿透深度、过压比、颗粒大小、特征X射线、测量时间、电子束直径、束斑、分光晶体、表样； 分析前必须使仪器处于最佳状态，如束流要稳定，电子束合轴良好，流气式谱仪的P10气体要开一小时以上等。 入射电子的能量必须大于被测元素线系的临界激发能；试样中产生的特征X射线要有较高的强度，并有较高的信噪比；在不损伤试样的前提下，分析区域应尽量小；各分析条件不是独立的，必须根据分析的试样情况综合考虑。 13.能谱与波谱各有哪些特点? 能谱和波谱性能比较 比较内容 WDS EDS 元素分析范围 4 Be—92U 4 Be—92U 定量分析速度 慢 快 分辨率 高（≈5eV） 低（130eV） 检测极限 10-2（%） 10-1（%） 定量分析准确度 高 低 X射线收集效率 低 高 P/B（WDS/EDS） 10 1 14.什么是透射电镜（TEM）? 透射电镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子