西工大数电实验报告1TTL集成逻辑门参数测试.docVIP

实验一 TTL集成逻辑门参数测试 学号：2010300784 姓名： 张腾 班级实验目的： （1）掌握各种TTL门电路的逻辑功能。 （2）掌握验证逻辑门电路功能的方法。 （3）掌握空闲输入端的处理方法。 二、实验设备： 数字电路实验箱，74LS00，双踪示波器 三、实验原理： 门电路是数字逻辑电路的基本组成单元，门电路按逻辑功能可分为与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。按电路的结构组成不同，可分为分立元件门电路、CMOS集成门电路、TTL集成门电路等。集成门电路通常封装在集成芯片内，一般有双列直插和表面贴装两种封装形式。实验中常用的是双列直插式。每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象地说明了集成电路的用途。 四、实验内容： 1、在74LS00芯片中选一个与非门，输入端通过逻辑电路开关接高、低电平，输出端接示波器。输入不同信号组合，在表1.1中记录相应结果。 2、用与非门实现与逻辑、或逻辑和异或逻辑。其中A为脉冲输入，B为数字开关输入。F输出接示波器。 F=AB F=A+B F=AB 五、实验结果： 1、 表1.1 输入 输出 A B Y 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 2、 F=AB= B=1 B=0 F=A+B