半导体制造工艺_13薄膜沉积(下)剖析
Two different modes of epitaxy Non-selective epitaxial growth (NSEG) 加热器 a) 必须在蒸发温度提供所需热量,但本身结构仍保持稳定。熔点高于被蒸发金属熔点 b) 不能与处于熔融状态的蒸发料合金化或化合 c) 蒸气压很低 d) 易加工成形 例:难熔钨丝螺旋式蒸发源 溅射Sputtering - 溅射淀积Sputter deposition 利用高能粒子(通常是由电场加速的正离子如Ar+)撞击固体表面,使表面离子(原子或分子)逸出的现象 2、射频溅射 — 也可溅射介质 如靶是绝缘材料,不能采用直流溅射,因为绝缘靶上会有正电荷积累。此时可以使用交流电源。 3、反应溅射 在溅射气体中引入反应活性气体如氧或氮气,可改变或控制溅射膜的特性。 如在低温下可制作SiOx、SiNx等钝化膜或多属布线中的绝缘层;TiN、TaN等导电膜或扩散阻挡层 4、磁控溅射 直流溅射和RF溅射中,电子和气体分子碰撞的离化效率较低,电子的能量有许多消耗在非离化的碰撞和被阳极收集。通过外加磁场提高电子的离化率, 磁控溅射可以提高溅射效率。 蒸发工艺中的一些问题: 对某些元素淀积速率很慢 合金和化合物很难采用 台阶覆盖差 目前大生产很少采用 溅射的优点: 台阶覆盖比蒸发好 辐射缺陷远少于电子束蒸发 制备复合材料和合金性
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