插损：il≤02db.pptVIP

侵入/腐蚀试验（Immersion/Corrosion Test） 侵蚀试验是把光纤连接器浸入去离子或者蒸馏水中，模拟其对特定液体的耐恶习化能力，确定其对连接器端面几何稳定性的影响。 物料测试(4) 浸蚀试验参数 温度 85°C 溶液成分 250mL去离子水或蒸馏水 持续时间 14天(两周) 插回损测量 测试前后 测试样本 至少5套连接器和5个插头(共15个插头和5个连接器) 合格判据 退化因子小于或等于0.015 纤芯收缩不能超过10nm 实验设备 水箱 注：实验至少需要15个插头，样品数至少10套，表面特征的变化（比如插针材料的变形和表面的粗糙）将被记录，再用仪器把金属部分进行18倍放大来检测腐蚀。 地下水侵蚀试验（Groundwater Immersion） 如果保护这些用于地下设备的光连接器的包层破裂，那么这些连接器被裸露地浸入各种流体中。 物料测试(5) 地下水浸蚀试验参数 温度 22℃±2 ℃ 溶液成分 清洁剂Detergent in Water、氨水Aqueous Ammonia、氯Chlorine in Water、燃料Fuels，有机体成分见右表 持续时间 7天 插回损测量 刚浸入时测量一次，一天后测量一次，7天后再测量一次 测试样本 至少25套连接器 合格判据 插损:IL≤0.2dB;△IL≤0.3dB 回损:RL≤55dB;△RL≤5dB 实验设备 水箱 AT