基于msp430单片机的晶化监控.pdf

2008年第6期 工业仪表与 自动化装置 ·23 · 基于MSP430单片机的晶化监控 系统设计与实现 张万宏 ，王晓兰 ，王玮冬 (1．青海大学 化工学院，青海 西宁810016； 2．甘肃省有色金属新材料省部共建国家重点实验室，甘肃 兰州 730050) 摘要：针对非晶材料晶化过程的电特性，提出了晶化温度控制和 电阻率测试的总体设计方案， 介绍了监控系统硬件和软件设计，并具体设计 了以MSP430单片机为核心的智能温度控制和电阻 率测试装置。试验结果表明该系统既提高了控制精度和可靠性，降低了开发成本，又能准确及时地 实现非晶材料晶化过程电特性的在线动态研究。 关键词 ：晶化监控 ；组合 自校正；MSP430 中图分类号：TP368 文献标识码：A 文章编号：1000—0682(2008)06—0023—03 Thedesignandimplementationofacrysatllizationmonitoringcontrolsystem basedontheM SP43Osingle—chipmicroprocessor ZHANG Wan—hong ，WANG Xiao—lan ，WANG Wei-dong (1．SchoolofChemicalEngineringunderQinghaiUniversity，QinghaiXining810016，China； 2．StateKeyLabofC,ansuAdvancedNon-ferrousMetalMaterials，GansuLanzhou730050，China) Abstract：Accordingtotheelectricpropertyofthecrystallizationprocessofanamorphousmaterial， thepaperpresentsthedesignofatemperaturemonitorandaresistivitymeteraswellastheconfiguration ofthehardwareandsoftwarebasedontheMSP430single—chipmicroprocessor．Theresultfrom itsappli· cationshowsthatthissystem hasnotonlyimprovedthecontrolaccuracyandreliability，butalsoreduced itsdevelopmentcostandofferedanoccasionforbringingaboutintimeanon—linedynamicstudyofthe electricpropertyofthecrystallizationprocess． Keywords：crystallizationmonitor；combinedself—tuning；MSP430 有效的方法。为完成对非晶材料晶化过程 电特性测 0 引言 试，即电阻率在晶化突变点及亚稳相各特征点的测 非晶材料具有超高强度和一定的韧性，而且价 试，需要对晶化过程的温度进行精确控制，而且需要 格低廉，具有广阔的应用前景，是有色金属新材料的 依据不同的材料样品对温度进行灵活设置，所以需 研发方向之一。由于非晶材料在晶化过程中表现出 要设计出一个通用的温度控制器。基于此该文提出 明显的电特性，而电特性是表征晶化过程晶核组织 了非晶材料晶化过程温度控制和电阻率测试的设计 结构的～项重要指标，所以通过电阻率与温度的关