纳米材料研究中现代物理方法的应用 (1).pdfVIP

纳米材料碗窝 嘲 法韵应用 ■ 刘 坤 摘要 ：纳米材料是结晶粒度为纳米级的多晶材料 ，是 8O年 AyaskantaSahu等 用溶胶法制备 了不同形貌的硫族银化 代 中期发展起来的一种具有全新结构的材料．本文将对电子显 物，用 SEM和TEM分别对其进行了表征，并在此基础上讨论了 微技术、衍射技术、谱学技术及热分析技术的原理、特点及其在 影响产品晶形和形貌的主要因素 ，以期能更好地理解 Ag2Se的 纳米材料 中的应用作 了评述．在此基础上指出：综合使用各种 成核与生长机理．周光文等”报道了利用脉冲激光法成功地制 不同的分析和结构表征方法，可对纳米材料的结构和性能进行 备了硅的一维纳米线的氮化硼纳米管，用TEM对这些一维纳米 有效研究，从而指导其应用．同时，也提 出了一些其它的表征手 材料的微观结构进行了表征，观察到了硅纳米线中存在微孪晶、 段 ． 堆垛层错、小角晶界等高密度的结构缺陷，并且发现这些结构缺 关键词 ：纳米材料 ；电子显微技术；衍射技术；谱学技术；热 陷与硅纳米线的生长和形貌有着密切的关系．于会生等 用 分析 ；结构表征 AFM对化学沉积Ni—cu—P合金薄的表面形貌进行了观察，并 纳米材料的化学组成及其结构是决定其性能和应用的关 在此基础上对多元化学沉积机理进行了初步研究． 键因素，而要探讨纳米材料的结构与性能之间的关系，就必须 3．纳米材料的微区化学成分分析 对其在原子尺度和纳米尺度上进行表征，其重要的微观特征包 以扫描电子显微镜为例，通过安装在其上的能量散射 x射 括…：(1)晶粒尺寸及其分布和形貌 ；(2)晶界及相界面的本 线能谱仪(EDX)收集相关特征 x射线和电子能量损失谱 ，可以 质和形貌；(3)晶体的完整性和晶间缺陷的性质；(4)跨晶粒和 得到纳米材料的化学组分信息，通过调节电子的加速电压可控 跨晶界的成分分布；(5)微晶及晶界中杂质的剖析等．如果是层 制电子束的深度范围 ，从而实现纳米材料的微区成分分析． 状纳米结构，则要表征的重要特征还有 ：(1)界面的厚度和凝 AlfredJ等 在用溶剂热法合成三元半导体Cu—In—se纳米线 聚力 ；(2)跨界面的成分分布；(3)缺陷的性质．总之，通过对 (NWs)时，为了确定合成出的NWs中三者的比例关系，即需用 纳米材料的结构特性的研究，可为解释材料结构与性能的关系 EDX．进而证实了cu：In：Se=1：1：2，但还有一些纳米线上没有 提供实验依据． In元素．要进一步研究纳米材料中的化学成键形态，可借助 X 一 、 电子显微技术 射线光电子能谱等其它测试手段． 在纳米材料的形貌和尺寸分布等方面的研究中，用到的主 二、衍射技术 要显微镜有：①扫描电子显微镜(SEM)：是一种利用电子束扫 1．X射线衍射 描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜．它能产生样品表 x射线衍射也是测量纳米微粒的常用手段，它不仅可确定 面的高分辨率图像 ，且图像呈三维 ，扫描电子显微镜能被用来 试样物相及其相含量，还可判断颗粒尺寸大小．此外 ，XRD还 鉴定样品的表面结构；②透射电子显微镜(TEM)：是把经加速 可用于晶体结构的分析，对于简单的晶体结构，根据粉末衍射 和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子 图可确定