第六章光学显微讲述试卷.ppt

用物台微尺确定目镜刻度尺每小格长度的步骤： (1)将物台微尺置于物台上，准焦。 (2)转动载物台，使微尺与目镜刻度尺平行，再移动微尺使两零点对齐。仔细观察两个微尺的分格线在什么地方重合。 例如:目镜刻度尺50小格与物台微尺48格相当，则目镜刻度尺每小格所代表的实际长度为：48/50×0.01mm=0.0096mm(9.6μm)，这就是该放大倍数下目镜刻度尺的实际长度。当变换放大倍数时，则目镜刻度尺的每小格长度，要按上述方法重新测量。 6.5矿物颗粒大小及含量的测定 6.5.1矿物颗粒大小的测量 当知道了刻度目镜每小格所代表的长度后，就可以测定薄片或光片中矿物颗粒直径的大小。粒状颗粒，一般测定其平均直径；板状、柱状、针状等晶体，要测量其长与宽两个尺寸，用长与宽两个数据来表示。 6.5矿物颗粒大小及含量的测定 6.5.1矿物颗粒大小的测量 测定方法 面积法——薄片中各矿物所占面积百分比，近似等于其体积百分比； 计点法——统计各矿物在视域中心出现的次数，各矿物点数的比例与其面积成正比，亦与其体积成正比(点数的测量由电动计点器完成，该仪器包括机械台和自动记录器二部分)； 目估法——用一套已知百分比的参比图，直接估计各矿物的百分比。 直线法——薄片中各矿物的线长度百分比相当于其体积百分比； 6.5矿物颗粒大小及含量的测定 6.5.1矿物颗粒大小的测量 6.5矿物颗粒大小及含量的测定 6.5.2矿物百分含量的测定 目估法参比图如图所示。 目估法参比图如图所示。 人有了知识，就会具备各种分析能力， 明辨是非的能力。 所以我们要勤恳读书，广泛阅读， 古人说“书中自有黄金屋。 ”通过阅读科技书籍，我们能丰富知识， 培养逻辑思维能力； 通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平， 培养文学情趣； 通过阅读报刊，我们能增长见识，扩大自己的知识面。 有许多书籍还能培养我们的道德情操， 给我们巨大的精神力量， 鼓舞我们前进。 * * （3）光性正负的测定 ★一轴晶晶体，Ne＞No时，为正光性；Ne＜No时，为负光性； ★在一轴晶⊥OA切片干涉图上，径向为非常光Ne′的振动方向；切向为常光No的振动方向。根据补色原理，利用补色器测出Ne与No的相对大小，就可判断光性正负（测定方法如图）。 ★注意：测定光性正负要根据四个象限的干涉色高低选用合适的试板。一级黄以下选用石膏试板；一级黄以上选用云母试板或石英楔子。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 石英垂直光轴切面的光性确定 方解石垂直光轴切面的光性确定 2、斜交光轴切片的干涉图 (1)形象特点：由于光轴出露点不在视域中心，干涉图为不完整的黑十字和干涉色圈组成。 根据切片法线与光轴夹角的大小，可分成两种情况，如图所示。 干涉图的成因与垂直光轴切片的干涉图相同。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 2、光性正负的测定 （1）当干涉图中黑十字交点在视域内时，测定方法与⊥OA切片干涉图相同； （2）当干涉图中黑十字交点在视域外时，首先要确定视域属于哪一象限，即黑十字交点在视域外的位置，其方法有： ①消光影细端靠近光轴方向，粗端远离光轴；②干涉色圈凹向光轴出露点； 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 ③旋转物台，由黑带的移动情况判断象限（如图）。 ★确定了视域属于哪一象限后，测定方法与⊥OA切片干涉图相同(如图)。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 3、平行光轴切片干涉图 (1)形象特点: 当光轴与PP、AA方向平行时，干涉图为粗大模糊的黑十字；少许转动物台，黑十字即分裂并沿光轴方向退出视域。因变化迅速而称为瞬变干涉图或闪图；当光轴与PP、AA方向成45°时，出现对称干涉色（由内向外，垂直光轴方向升高，沿光轴方向降低，如图）。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 (2)成因（如图2-68） 在平行光轴切面的光率体椭圆半径分布图中，当光轴与上、下偏光镜振动方向之一平行时，大部分的光率体椭圆半径都与上、下偏光镜振动方向平行或近于平行，在正交偏光镜间，应当消光或近于消光，故形成粗大模糊的黑十字，稍转动物台，则大部分光率体椭圆半径与上、下偏光镜振动方向斜交，故黑十字迅速分裂退出视域，而使视域变亮，出现干涉色。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 4、干涉图的应用 ★一轴晶垂直光轴和斜交光轴（光轴倾角不大）的切片，其干涉图可用于确定轴性、测定光性符号和确定切片方向。 ★平行光轴切片的干涉图，当轴性已知时，可用于确定切片方向和测定光性符号。测定光性正负，只需测出光轴方向Ne是Ng或Np，即可决定光性正负。如图2-70所示。 6.4锥光镜下晶体的光学性质 6.4.2一轴晶干涉图 6.4