高可靠快恢复二极管中寿命控制技术的研究 - 中国半导体分立器件分会.PDF

櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶櫶 ： ｄｏｉ １０３９６９／ ｊｉｓｓｎ１００３３５３ｘ２０１０ｚ１０２３ 高可靠快恢复二极管中寿命控制技术的研究 门永娟，刘军 （北京微电子技术研究所北京时代民芯科技有限公司北京， ， ） １０００７６ 摘要：随着现代电力电子技术的发展，各种新型器件被开发并大量应用，快恢复二极管就是 。 其中一类关键的器件介绍了快恢复二极管中采用的各类寿命控制技术并比较了各类技术的特 点。针对高可靠快恢复二极管特点，分析了其适用的寿命控制技术。最后通过扩铂、扩金试验， 讨论了不同方法对反向恢复时间、正向压降 以及反向漏电流 等参数的影响，最终确认 ｔｒｒ ＶＦ ＩＲ 在高可靠性产品中扩铂是二者中的优选方法。 关键词：寿命控制；高可靠快恢复二极管；反向恢复时间；正向压降；反向漏电流 中图分类号： 文献标识码： 文章编号： （ ）增刊 ＴＮ３０６ Ａ １００３３５３Ｘ ２０１０ ００７９０４ Ｓｔｕｄｙ ｏｆ ｔｈｅ Ｌｉｆｅｔｉｍｅ Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ ｉｎ ＨｉＲｅｌ ＦＲＤｓ ， Ｍｅｎ Ｙｏｎｇｊｕａｎ Ｌｉｕ Ｊｕｎ （ ， ， ， ） ＭＸＴｒｏｎｉｃｓ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ Ｂｅｉｊｉｎｇ Ｍｉｃｒｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ Ｉｎｓｔｉｔｕｔｅ Ｂｅｉｊｉｎｇ １０００７６ Ｃｈｉｎａ ： Ａｂｓｔｒａｃｔ ＦＲＤ ｉｓ ａ ｋｉｎｄ ｏｆ ｎｏｖｅｌ ｐｏｗｅｒ ｄｅｖｉｃｅｓ ａｐｐｌｉｅｄ ｗｉｄｅｌｙ ｗｉｔｈ ｔｈｅ ｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔ ｏｆ ｍｏｄｅｒｎ ｐｏｗｅｒ ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ． Ｔｈｅ ｖａｒｉｏｕｓ ｌｉｆｅｔｉｍｅ ｃｏｎｔｒｏｌ ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ ａｒｅ ｉｎｔｒｏｄｕｃｅｄ ａｎｄ ｔｈｅｉｒ ｆｅａｔｕｒｅｓ ａｒｅ ｃｏｍｐａｒｅｄ ， ｉｎ ＦＲＤ． Ｂａｓｅｄ ｏｎ ｔｈｅ ｃｈａｒａｃｔｅｒｉｓｔｉｃｓ ｏｆ ＨｉＲｅｌ ＦＲＤｓ ａｐｐｌｉｃａｂｌｅ ｌｉｆｅｔｉｍｅ ｃｏｎｔｒｏｌ ｔｅｃｈｎｉｑｕｅｓ ａｒｅ ａｎａｌｙｚｅｄ． ， Ｔｈｒｏｕｇｈ ｔｈｅ ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔ ｏｆ ｔｈｅ ｐｌａｔｉｎｕｍ ｄｉｆｆｕｓｉｏｎ ａｎｄ ｔｈｅ ｇｏｌｄ ｄｉｆｆｕｓｉｏｎ ｔｈｅ ｅｆｆｅｃｔｓ ｏｆ ｄｉｆｆｅｒｅｎｔ ｍｅｔｈｏｄｓ ｏｎ ， ， ， ｔ Ｖ Ｉ ａｒｅ ｄｉｓｃｕｓｓｅｄ ａｎｄ ｉｔ ｉｓ ｃｏｎｆｉｒｍｅｄ ｔｈａｔ ｔｈｅ ｐｌａｔｉｎｕｍ ｄｉｆｆｕｓｉｏｎ ｉｓ ｓｕｐｅｒｉｏｒ ｔｏ ｔｈｅ ｇｏｌｄ ｄｉｆｆｕｓｉｏｎ． ｒｒ Ｆ Ｒ ： ； ； ； ； Ｋｅｙ ｗｏｒｄｓ ｌｉｆｅｔｉｍｅ ｃｏｎｔｒｏｌ ＨｉＲｅｌ ＦＲＤｓ ｒｅｖｅｒｓｅ ｒｅｃｏｖｅｒｙ ｔｉｍｅ ｆｏｒｗａｒｄ ｖｏｌｔａｇｅ ｒｅｖｅｒｓｅ ｌｅａｋａｇｅ ｃｕｒｒｅｎｔ ：