第七章半导体剖析.pptVIP

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  • 2017-07-13 发布于湖北
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第七章半导体剖析

一、本征半导体 本征半导体中的自由电子和空穴总是成对出现,同时又不断进行复合。在一定温度下,载流子的产生与复合会达到动态平衡,即载流子浓度与温度有关。温度愈高,载流子数目就愈多,导电性能就愈好——温度对半导体器件的性能影响很大。 半导体中的价电子还会受到光照而激发形成自由电子并留下空穴。光强愈大,光子就愈多,产生的载流子亦愈多,半导体导电能力增强。故半导体器件对光照很敏感。 杂质原子对导电性能的影响将在下面介绍。 二. N型半导体和P型半导体 1. 本征半导体与掺杂半导体 2. N型半导体 当在硅或锗的晶体中掺入微量磷(或其它五价元素)时,磷原子与周围的四个硅原子形成共价键后,磷原子的外层电子数将是 9 ,比稳定结构多一个价电子。 掺入磷杂质的硅半导体晶体中,自由电子的数目大量增加。自由电子是这种半导体的导电方式,称之为电子半导体或N型半导体。 一、PN结的形成 二极管的分类 例 三. 特性曲线 晶体管的特性曲线是表示一只晶体管各电极电压与电流之间关系的曲线。是应用晶体管和分析放大电路的重要依据。 1. 输入特性曲线 2. 输出特性曲线 输出特性曲线是在IB为常数时,IC与UCE之间的关系曲线。在不同的IB下,可得到不同的曲线,即晶体管的输出特性曲线是一组曲线(见下图)。 通常将晶体管的输出特性曲线分为三个工作区: (3) 饱和区 1. 电流放大系数 、

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