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SSD1332 OLED 點亮細節
LCM 產品設計課
目錄
一、OLED 的显示理……………………………………………1
二、OLED 相关关键工艺………………………………………2
三、OLED 的驅動技朮…………………………………………4
四、具體點亮模組 SSD1332、65K、OLED……………………5
五、利用 AT90S8515測試板(新測試板外部可以擴展 8Mbit)
點亮模組………………………………………………………………………15
SSD1332 65K OLED LCM 產品設計課
一、 OLED 的显示原理
OLED 组件系由 n 型有机材料、p 型有机材料、阴极金属及阳极金属所构成。电子(空
穴)由阴极(阳极)注入,经过 n 型(p 型)有机材料传导至发光层(一般为 n 型材料) ,经由再结
合而放光。一般而言,OLED 组件制作的玻璃基板上先溅镀 ITO 作为阳极,再以真空热蒸
镀之方式,依序镀上 p 型和 n 型有机材料,及低功函数之金属阴极。由于有机材料易与水
气或氧气作用,产生暗点(Dark spot)而使组件不发亮。因此此组件于真空镀膜完毕后,必
须于无水气及氧气之环境下进行封装工艺。
在阴极金属与阳极 ITO 之间,目前广为应用的组件结构一般而言可分为 5 层。如图一
所示,从靠近 ITO 侧依序为:空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层、电子注入
层。OLED 组件系由两层有机材料所构成,分别为空穴传输层及电子传输层。其中空穴传
输层为 p 型之有机材料,其特性为具有较高之空穴迁移率,且其最高占据之分子轨域
(Highest occupied molecule orbital,HOMO)与 ITO 较接近,可使空穴由 ITO 注入有机层之能
障降低。
[图一:OLED 结构图]
而至于电子传输层,系为 n 型之有机材料,其特性为具有较高之电子迁移率,当电子
由电子传输层至空穴电子传输层接口时,由于电子传输层之最低非占据分子轨域(Lowest
unoccupied molecule orbital,LUMO)较空穴传输层之 LUMO 高出甚多,电子不易跨越此一能
障进入空穴传输层,遂被阻挡于此接口。此时空穴由空穴传输层传至接口附近与电子再结
合而产生激子(Exciton),而 Exciton 会以放光及非放光之形式进行能量释放。以一般萤光
(Fluorescence)材料系统而言,由选择率(Selection rule)之计算仅得 25%之电子空穴对系以放
光之形式做再结合,其余 75%之能量则以放热之形式散逸。近年来,正积极被开发磷光
(Phosphorescence)材料成为新一代的 OLED 材料[2],此类材料可打破选择率之限制,以提高
内部量子效率至接近 100%。
在两层组件中,n 型有机材料-即电子传输层-亦同时被当作发光层,其发光波长系
由 HOMO 及 LUMO 之能量差所决定。然而,好的电子传输层-即电子迁移率高之材料-
并不一定为放光效率佳之材料,因此目前一般之做法,系将高萤光度的有机色料,掺杂
(Doped)于电子传输层中靠近空穴传输层之部分,又称为发光层[3],其体积比约为 1%至 3%。
掺杂技术开发系用于增强原材料之萤光量子吸收率的重点技术,一般所选择的材料为萤光
量子吸收率高的染料(Dye)。由于有机染料之发展源自于 1970 至 1980 年代染料雷射,因此
材料系统齐全,发光波长可涵盖整个可见光区。在 OLED 组件中掺杂之有机染料,能带较
差,一般而言小于其宿主(Host)之能带,以利 exciton 由 host 至掺杂物(Dopant)之能量转移。
然而,由于 dopant 能带较小,而在电性上系扮演陷阱(trap)之角色,因此,掺杂层太厚将会
使驱动电压上升;但若太薄,则能量由 host 转移至 dopant 之比例将会变差,因此,此层厚
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SSD1332 65K OLED LCM 產品設計課
度必须最佳化。
阴极之金属材料
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