薄壁快脉冲252犆犳裂变电离室的研制及性能测试-原子核物理评论.PDF

第 卷 第 期 原 子 核 物 理 评 论 ， ２６ １ Ｖｏｌ．２６ Ｎｏ．１ 　 　 　 年 月 ， ２００９ ３ ＮｕｃｌｅａｒＰｈｓｉｃｓＲｅｖｉｅｗ Ｍａｒ． ２００９ 　 　 ｙ 文章编号： （ ） １００７－４６２７２００９０１－００３７－０４ 　　 薄壁快脉冲２５２ 裂变电离室的研制及性能测试 犆犳 ， ， ， １ １ ＃ １ ２ １ ２ １ 顾先宝 ，黎光武 ，张文慧 ，张 刚 ，陈 宇 　 　 （ 中国原子能科学研究院，北京 ； １ １０２４１３ ２兰州大学核科学与技术学院，甘肃 兰州 ７３００００） 摘 要：介绍了用于中子探测器效率刻度的薄壁快脉冲２５２ 裂变电离室。在用飞行时间法测量中子 Ｃｆ 　 能谱时，该裂变电离室能够给出２５２ 裂变中子发射时刻信号，输出脉冲上升时间约为 ，电离 Ｃｆ ５．５ｎｓ 室由厚度为０．１５ｍｍ的不锈钢构成。测试结果表明，对裂变碎片的探测效率为９９．２％， 粒子脉冲 α 幅度和碎片脉冲幅度可清晰分开。 ２５２ 关 键 词：效率刻度； 裂变电离室；飞行时间法 Ｃｆ 中图分类号： ＋ 文献标识码： ＴＬ８１１．１ Ａ 　　　 变电离室的设计要求：（）结构材料尽可能少，减 １ 引言 １ 　 小对中子的散射作用；（）输出脉冲的上升时间短， ２ ２５２ 是具有标准中子谱的中子源，通常将 Ｃｆ 能够准确给出中子起飞时刻信号；（） 粒子和裂变