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A.收集数据 A.1 选择子组容量、分组频率及数量 a.子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如：50到200或更多）。但是应注意如果每个子组代表很长一段时间的操作，太大的子组容量会有不利之处。子组容量最好是恒定的。 b.分组频率：应根据产品的周期确定分组频率。时间间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求相矛盾。 C.子组的数量：收集数据的时间应足够长。一般情况下，应要求有25或更多的子组。 A.2 计算每个子组内的不合格品率（P） P=np 式中：n－被检项目数量， n np－发现的不合格项目数量。 A.3 选择控制图的坐标刻度 p图上的纵坐标表示不合格品率，横坐标为按时间顺序的子组。 纵坐标的刻度应从0到初始研究读数中最大的不合格品率值的1.5到2倍的值。 A.4 把计算的各子组的p值描画在p图上，将这些点连成线。应把过程异常情况记录在p图的备注栏中。 B.计算控制限 B.1 计算过程平均不合格品率（P） P= n1p1+n2p2+???+nKpK n1+n2+???+nK 式中：n1p1、n2p2…及n1n2为每个子组内的不合格项目数及检查的项目数。 注意不要混淆不合格品百分数（p×100）和不合格品率（p）。 － － _________________________ B.2计算上、下控制限（UCL，LCL） 如果过程受统计控制，子组样本容量一定，则可计算。 UCLp = p+ 3?P(1-P) / ?n LCLp = p- 3?P(1-P) / ?n 式中：n为恒定的样本容量。 注：当p很小和／或n很小时，LCL计算值为负值，则无下控制限。 B.3画线及标注 过程均值p－－水平实线 控制限UCL，LCL－－水平虚线 在初始研究中，这些被认为是试验控制限 C.过程控制用控制图解释 C.1分析数据点，找出不稳定的证据 a.超差控制限的点－超出任一控制限就证明在那点不稳定，应立即调查，识别特殊原因，采取措施。 应在控制图上清楚标注超出控制限的点。 注意：低于下控制限的点，经分析后，认为过程性能已改进，则要保持。 b.链 只有当子组的不合格项目平均值(np)较大时(np?9)，才可使用以下判断规则： 在一个受控的np中等较大的过程中，落在均值两侧的点的数量几乎相等。 出现以下情况，表明过程变化或开始变化。 －－连续7点位于均值的一侧 － － － －－连续7点上升(后者与前者相等或比前者大)，说明过程性能在变坏，要识别特殊原因，采取措施。 －－连续7点下降，说明过程性能已改进，要分析原因，并将其保持下去。 注：当np5时，出现低于p 的链的可能性增加，因此不能用上面的7点链作为判断规则，应使用8点或更多的点的长链作为判断规则。 C.明显的非随机图形 在np中等较大的过程中，大约2/3的点将位于控制限中部1/3的区域内；大约1/3的点位于其外的2/3的区域内；大约1/20的点位于与控制限较接近的区域(外部1/3区域)。 出现下列情况为异常： 如果明显多于2/3的点位于均值接近的地方，则有可能： － 控制限或描点错误 － 过程或取样方法分层。每个子组包含来自两个或多个具有不同平均性能的过程流的测量（如：两条生产线的混合输出） － 数据被编辑或伪造。 如果大大少于2/3的点位于过程均值较近的区域，则有可能： － 发生了计算或描点错误 － 过程或取样方法造成连续的子组包含来自两个或多个具有不同均值性能的过程流的测量（如：每班之间的性能差异） C.2寻找并纠正特殊原因 当从数据中发现失控，应研究操作过程，确定原因，采取措施，防止再发生。 应用即时数据研究时，出现失控，及时调查过程的操作，分析并采取措施，措施效果会在控制图上反映。 C.3重新计算控制限 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时 剔除了与特殊原因有关的点后 样本容量改变后 一旦历史数据表明一致性能均在试验的控制限内，则可将控制 限延伸到将来的时期，变成了操作控制限。 D. 过程能力解释 D.1计算过程能力p 对于p图，平均不合格率p即代表过程能力。 过程能力的初步估计值，应使用历史数据，但应剔除与特殊原因有关的数据点。 当正式研究过程能力时，应使用新的数据，子组不少于25个，且所有的点都受控。这些连续的受控时期的子组的p值是该过程当前能力的更好估计值。 过程能力举例： 如该过程平均不合格品率p=0.045,则该过程能力是：功能 检验的失效为4.5%(95.5%合格) D.2 评价过程能力 如果进行100%的功能检验并已选出不合格的产品，顾客能得到免受不合格产品的保护。但是4.5%的平