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实验2:ADC数据采集
实验2: ADC数据采集
1、实验目的
了解ARM处理器ADC接口的处理机制;掌握在S3C2410A 平台下进行ADC接口应用编程本思想和过
程。
2 、实验内容
学习A/D接口原理,了解实现A/D系统对于系统的软件和硬件要求。阅读ARM 芯片文档,掌握ARM
的A/D 相关寄存器的功能,熟悉ARM 系统硬件的A/D相关接口。利用外部模拟信号编程实现ARM循环
采集全部前3路通道,并且在超级终端上显示。
3、预备知识
用ARM ADS1.2集成开发环境,编写和调试程序的基本过程。ARM 应用程序的框架结构。
4 、实验设备及工具
硬件:PC机、嵌入式系统实验箱
软件:Windows 操作系统、ADS1.2集成开发环境、超级终端通讯程序。
5、实验原理
(1)A/D 转换器
A/D转换器是模拟信号源和 CPU之间联系的接口,它的任务是将连续变化的模拟信号转换为数
字信号,以便计算机和数字系统进行处理、存储、控制和显示。在工业控制和数据采集及许多其他
领域中,A/D转换是不可缺少的。
A/D转换器有以下类型:逐位比较型、积分型、计数型、并行比较型、电压-频率型,主要应
根据使用场合的具体要求,按照转换速度、精度、价格、功能以及接口条件等因素来决定选择何种
类型。常用的有以下两种:
1)双积分型的A/D转换器
双积分式也称二重积分式,其实质是测量和比较两个积分的时间,一个是对模拟输入电压积分
的时间 T0 ,此时间往往是固定的;另一个是以充电后的电压为初值,对参考电源 Vref反向积分,
积分电容被放电至零所需的时间 T1 。模拟输入电压 Vi 与参考电压 VRef之比,等于上述两个时间
之比。由于V 、T 固定,而放电时间 T 可以测出,因而可计算出模拟输入电压的大小(V 与 Vi
Ref 0 1 Ref
符号相反) 。由于 T 、V 为已知的固定常数,因此反向积分时间T 与输入模拟电压Vi在T 时间内的
0 Ref 1 0
平均值成正比。输入电压V 愈高,V 愈大,T 就愈长。在 T 开始时刻,控制逻辑同时打开计数器
i A 1 1
的控制门开始计数,直到积分器恢复到零电平时,计数停止。则计数器所计出的数字即正比于输入
电压Vi在 T0 时间内的平均值,于是完成了一次A/D转换。
由于双积分型A/D转换是测量输入电压 Vi 在 T 。时间内的平均值,所以对常态干扰( 串模干扰)
有很强的抑制作用,尤其对正负波形对称的干扰信号,抑制效果更好。双积分型的A/D转换器电路
简单,抗干扰能力强,精度高,这是突出的优点。但转换速度比较慢,常用的A/D转换芯片的转换
时间为毫秒级。例如12位的积分型A/D芯片ADCETl2BC ,其转换时间为lms 。因此适用于模拟信号
变化缓慢,采样速率要求较低,而对精度要求较高,或现场干扰较严重的场合。例如在数字电压表
中常被采用。
2 )逐次逼近型的A/D转换器
逐次逼近型(也称逐位比较式) 的A/D转换器,应用比积分型更为广泛,其原理框图如图1所示,主
要由逐次逼近寄存器SAR、D/A转换器、比较器以及时序和控制逻辑等部分组成。它的实质是逐次
把设定的SAR寄存器中的数字量经D/A转换后得到电压Vc与待转换模拟电压V 。进行比较。比较时,
先从SAR的最高位开始,逐次确定各位的数码应是“1”还是“0”,其工作过程如下:
转换前,先将SAR寄存器各位清零。转换开始时,控制逻辑电路先设定SAR寄存器的最高位为“1”,
其余位为“0”,此试探值经D/A转换成电压Vc ,然后将Vc与模拟输入电压Vx 比较。如果Vx≥Vc ,说
明SAR最高位的“1”应予保留;如果VxVc ,说明SAR该位应予清零。然后再对SAR寄存器的次高位
置“1”,依上述方法进行D/A转换和比较。如此重复上述过程,直至确定SAR寄存器的最低位为止。
过程结束后,状态线改变状态,表明已完成一次转换。最后,逐次逼近寄存器SA
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