实验2 TTL集成门电路逻辑功能测试及应用新 1111.docVIP

实验二 TTL集成门电路的逻辑功能测试及逻辑变换 一、实验目的 1．熟悉TTL集成元器件引管脚排列特点。 2．掌握各门电路逻辑功能测试方法及用与非门实现逻辑电路的变换。 3．熟悉数字电路实验装置的结构、基本功能和使用方法。 4．了解逻辑门对脉冲信号的控制作用。 二、实验原理 1．用以实现基本逻辑运算和复合逻辑运算的单元电路统称为门电路。常用的基本门电路在逻辑功能上有与门、非门、与非门、或门、异或门、或非门等几种。它们的逻辑表达式、逻辑符号及对应型号如表2.1所示。 表2-1 逻辑门表达式、逻辑符号及型号 逻辑门命名及逻辑表达式 逻辑符号 型号（74LS系列） 与非门 74LS00 与 门 74LS08 或 门 74LS32 异或门 74LS86 非 门 74LS04 图2-1 用与非门构成逻辑图2．应用摩根定理，可以实现只用与非门或只用或非门就能完成与、或、非、异或等逻辑运算。由于在实际工作中大量使用与非门，因此对于一个表达式，应用摩根定理，用两次求反的方法，就能较方便地实现两级与非门网络。例如，用与非门去实现的逻辑图，根据此表达式就很容易画出用与非门表示的逻辑图。如图2-1所示。 图2-1 用与非门构成逻辑图 3．逻辑门对数字信号有控制作用。控制的原理很简单，就是利用逻辑门的逻辑功能，在门的一端加上控制信号（“1”电平或“0” 三、实验设备与器件 1.+5V直流电源 2.逻辑电平开关 3.逻辑电平显示器 4.器件74LS00、74LS08、74LS04、74LS32、74LS86、74LS51 四、实验内容 (一)门电路逻辑功能测试 在电子学综合实验装置的数字电路实验板上选取一个14P插座，按定位标记插好所要测试的各集成块。 1.测试74LS00（二入四与非门）逻辑功能 本实验选用二输入四与非门74LS00，其内部结构、引脚排列及逻辑符号如图2-2所示。将集成块14管脚和7管脚分别接5V直流电源的“+”和“-”极，选取集成块中的一个与非门，门的二个输入端分别接十六位逻辑开关电平输出插孔（以下简称逻辑电平输出插孔），以提供“0”与“1”电平信号，开关向上时，输出逻辑“1”，向下时输出逻辑“0”。门的输出端接由LED发光二极管组成的十六位逻辑电平输入插孔（以下简称逻辑电平显示输入插孔）。LED亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”。按图2-2右侧的真值表测试与非门的逻辑功能。 2. 测试74LS08（二入四与门）逻辑功能 74LS08内部结构、引脚排列及逻辑符号如图2-3所示。操作方法同1，将测试结果填入图2-3右侧真值表中。 A B Y A B Y 图2 图2-2 74LS00内部结构、引脚图、逻辑符号、真值表 图2 图2-3 74LS08内部结构、引脚图、逻辑符号、真值表 3. 测试74LS32（二入四或门）逻辑功能 74LS32内部结构、管脚排列及逻辑符号如图2-4所示。操作方法同1，将测试结果填入图2-4右侧真值表中 A B Y 图2 图2-4 74LS32内部结构、引脚图、逻辑符号、真值表 4.测试74LS86（二入四异或门）逻辑功能 74LS86内部结构、管脚排列及逻辑符号如图2-5所示。操作方法同1，将测试结果填入图2-5右侧真值表中。 A B Y 图2 图2-5 74LS86 内部结构、引脚图、逻辑符号、真值表 5.测试74LS04（六反相器）逻辑功能 74LS04内部结构、管脚排列及逻辑符号如图2-6所示。操作方法同1，将测试结果填入图2-6右侧真值表中。 A Y 图2 图2-6 74LS04内部结构、引脚图、逻辑符号、真值表 6.测试74LS51（2、3输入二与或非门）逻辑功能 74LS51内部结构、管脚排列及逻辑符号如图2-7所示。操作方法同1，将测试结果填入真值表中。 A B C D Y 图2 图2-7 74LS51内部结构、引脚图、逻辑符号、真值表 （二）用与非门组成下列门电路，并测试它们的逻辑功能 利用摩根定理将下列门电路全部用与非门实现。要求变换表达式，画出逻辑电路图，并将测试结果填入自拟的表格中。 与门 ②或门 ③或非门 ④异或门 （三）按图2-8所示，在与非门的其中一个输入端加计数脉冲信号，当另一端分别为“1”和“0” “接逻辑电平显示器输入插孔 “接逻辑电平显示器输入插孔” “接逻辑电平输出插孔” 图2 图2-8 观察与非门对脉冲的控制作用 五、实验报告要求及思考题 1. 把实验内容(一)所测得的数据填到附带的表格中。 2. 要求写出实验内容(二)变换表达式，画出逻辑电路图，并将测试结果填入自拟的表格中（参照实验内容一的