晶块尺寸和点阵畸变度的测定.ppt

晶块尺寸与点阵畸变度的测定 主要内容 引起线型宽化的可能原因 谢乐方程： 公式的推导方法不同，式中k=0.89或0.94，但实际应用中一般取k=1； β是指因为晶粒细化导致的衍射峰加宽部分，单位为弧度 。 主要内容 主要内容 衍射峰的实际测量宽度称为实测宽度B； b是与仪器的实验条件相关的特性，称为仪器宽度；β是与物理宽化对应的宽度； β相对于仪器宽度b的增量称为“加宽”； B,b,β三者之间不是简单的加和效应，而是一种复杂的卷积关系。 主要内容 纳米材料（晶粒小于100nm）的制备是当前的重要研究课题； 一般认为纳米粉体中不含有其它因素引起的衍射峰加宽； 物理宽度β的计算公式： n取1-2之间的数，用柯西函数时，n=1，用高斯函数时,n=2 。其它函数及其组合，则1n2。 用谢乐公式计算晶粒尺寸的实验步骤 1) 测量仪器宽度 测量一个粗晶粒（且无畸变，不会引起其它线形宽化）样品的衍射谱，计算其衍射峰宽度，作为仪器宽度b 严格地选用与待测样品同质的粗晶退火样作为标样，为简化实验程序，一般实验室选用粗晶硅样品作为标准样品来计算仪器宽度b 注意： 不同衍射仪的仪器宽度b是不同的 不同衍射角的仪器宽度b是不同的 2) 测量样品的衍射谱并计算实测宽度和物理宽度 3) 计算晶粒大小： 将数据代入谢乐公式： 已知Co3O4的（220）面的面间距d=0.28581nm，则： m=D/d=133。即晶粒在（220）面上有133个单胞大小 三种解卷积的近似函数法1.柯西分布法 实验操作步骤（柯西法,高斯法） 1) 作仪器宽度曲线 测量一个标准样品的衍射谱，就能拟合出一条仪器宽度随衍射角变化的曲线，从而可以了解任意衍射角的仪器宽度b 2 ) 测量样品的衍射谱，并作曲线拟合 3) 观察拟合报告，即可看到“晶粒大小” 4) 单击Size-Strain Plot按钮，测出平均晶粒大小和微应变(高斯函数n=2) 4) 单击Size-Strain Plot按钮，测出平均晶粒大小和微应变(柯西函数n=1) Jade按下列公式进行计算 d称为反卷积参数，可以定义为1-2之间的值 峰形接近于高斯函数，设为2 接近于柯西函数，则取d=1 d的取值大小影响实验结果大小和误差 采用谢乐公式计算晶粒大小实际上是将衍射学中的“嵌镶块”的概念换成了“晶粒”，这是假定没有亚晶存在的情况下使用的; 谢乐公式中的系数k值是一个接近于1但不等于1的数，β的计算精确度也依赖于峰形函数的选择。因此，计算结果不是一个绝对准确的数值，而只能作为相对值的参考; 不同衍射面的计算值是不相同的，可以通过多个晶面的衍射谱宽度来计算晶粒大小，然后再作平均，称为“平均晶粒大小”; 谢乐公式只适用于晶粒尺寸小于100nm的晶粒细化; 亚晶粒尺寸与通常意义上的粉末粒度具有本质的区别. 谢乐方程 计算晶块尺寸时，一般采用低角度的衍射线; 如果晶块尺寸较大，可用较高衍射角的衍射线; 晶粒尺寸在30nm左右时，计算结果较为准确; 此式适用范围为 100nm; 只存在晶粒细化的样品，衍射峰宽化与衍射角的余弦成反比. 微应变 宜用高角度衍射线; 只存在微应变的样品衍射峰宽化与衍射角正弦成正比. 标准Si的衍射谱 仪器宽度b随衍射角的变化 选择样品的（220）面作为测量面， 已知2θ=31.2°时，仪器宽度b=0.124°， 测得实测宽度B=0.364°，当函数都采用柯西函数时， β=B-b=0.364°-0.124°=0.240° =0.00419(rad) 晶格畸变与晶粒细化同时存在的情况 1.材料加工的一般情况： 材料在加工过程中会产生晶块尺度范围内的晶格畸变，同时也可能由于加工造成晶块破碎，即晶块细化; 因此，在研究材料加工对衍射线形影响的时候，必须同时考虑两种因素的同时存在; 当两种衍射线加宽因素都存在时，其作用效果也是卷积关系. 2.近似函数f(x)和g(x)的选择依据 实测线形与计算线形作比较 利用f(x)和g(x)函数，计算理论线形，将理论线形与实测线形相比较，选择线形相近的函数； 应用电子计算机计算选择近似函数，现代X射线衍射仪的软件系统中都带有峰分离拟合软件。 3.亚晶粒细化宽度（m）与点阵畸变宽度(n)的分离 这两种宽化与物理宽化之间同样满足卷积关系，因此计算公式同仪器宽度与物理宽度。 M(x):晶粒细化线形函数 N(x)：晶格畸变线形函数 4. M(x)和 N(x)函数的选择 选择不同的M(x)和N(x)组合，得到不同的β 、m、n关系式。 表2 可选M(x),N(x)函数及β和m,n的关系 M(x)和 N(x)函数的选择依据 数