介电常数量测实验.pdfVIP

介電常數量測實驗 一.實驗目的 在高頻微波通訊系統中，置於微波通訊系統的輸入與輸出端的濾波器與天 線，向來是射頻電路模組體積無法縮小的關鍵性組件之一。自 1965 年S.B.Cohn 研究並提出使用介電共振器應用在濾波器與天線之後，便逐漸取代傳統的導波管 濾波器。 許多應用於微波積體電路系統的介電材料，如： BaO-TiO2 、Zr,Sn-TiO2 、 BaO-Re2O3-TiO2 ，以及複合鈣鈦礦(perovskite) 等等材料均繼續被研究發出來。 歸納其因，主要乃是陶瓷介電共振器擁有許多優良特性，如表一所示，它除了可 提供價廉、高品質因素且小體積尺寸之共振器外，更由於其具小體積尺寸之緣故 而能直接接於微波積體電路上，以取代以往由金屬空腔所形成共振器大體積之缺 點，且其具良好的頻率溫度係數，更可做為高頻微波電路上共振頻率之良好補 償。 [1] 表一 介電共振器的規格、特性與設計考量 一般而言，微波高介電材料的應用有三個重要的介電性質：介電常數ε、介 電品質因子 Q及共振頻率的溫度係數τ 。共振器的尺寸與ε成反比，ε愈高， f 則共振器尺寸愈小，一般而言以大於 30 為佳。而材料的介電損失正切tanδ，一 般應用上約在3000 以上較為適用。另外若頻率溫度係數τ 小則可以穩定共振頻 f 率，故一般使用上約在±20ppm/℃左右。在高頻通信線路中，常以微波高介質材 料作成介電質共振器來設計與穩定振盪電路的振盪頻率及濾波器的中心頻率，而 多層平面陶瓷基板結構中，傳輸線特性及集總元件參數值也是由微波高介電材料 之介電特性來決定的。因此，了解並發展高介電材料之介電理論並精確量測以提 供準確的介電特性數值是相當重要的。 [2] 二.實驗器材 1. HP8753C Network Analyzer射頻網路分析儀 2. HP85032B Calibration Kit 3. N-SMA轉接頭 4. 高頻傳輸線 5. 平行導體板量測冶具 三.實驗原理 本實驗方法為平行板介質共振法，最早是由Hakki及 Coleman 於 1960 年首 先提出，而後由Courtney 接手完成溫度效應及誤差分析之研究，故此法通稱為 Courtney method 。但由於無法對金屬表面電阻Rs或是其它的損耗因素做精確的 量測，因此這個理論直到 1985 年由Kobayashi和 Katoh提出精確的等效金屬表 面電阻量測理論之後，才得以算是完整，如圖一所示。 圖一 平行板介電共振法之結構 共振可定義為：可儲存磁能或電能之系統（如電感與電容之並聯），若儲存 電能之的時間平均值和儲存磁能之時間平均值相等，則該系統中之電能與磁能將 發生交替變換現象，此現象即所謂的“共振＂，而此系統即稱為共振器。若以波 動之方式解釋，即電磁波在介電材料與空氣之介面所產生之反射波與入射波成為 加強性干涉時，會在介電體內產生駐波，而此一性質可應用於一些元件，如震盪 器、放大器、濾波器及波長計等。 當電磁波由一介質進入到不同之介質時，會因為兩者之介電常數之不同，會 發生反射與穿透的情形，如圖二所示。當ε 1 ε2時，電磁波從介質 1 入射到介 質 2時，會根據斯涅爾定律（ Snell’s law ），ε sinθ ε sinθ ，故θ會隨著 θ增 1 i 2 t t i 加而增加，當θ 等於π/2時，折射波會沿兩介質之介面傳送，此時若 θ再繼續增 t i 加，將不會有折射波產生，即入射波會完全反射，而此時之入射角被稱為臨界角 （critical angle ）θ ， 2 之最大值為 2 ，亦即當一介質之介電常數大於 ε ≥1+sin θ c r i 2時，在空氣中之