测试技术与实验方法 复习ppt3.ppt

按误差的性质可将测量误差分成随机误差、系统误差以及过失或非法误差。 （1）系统误差 每次测量同一量时，呈现出相同或确定性方式的那些测量误差称为系统误差。 （2）随机误差 每次测量同一量时，其数值均不一致、但却具有零均值的那些测量误差称为随机误差。 （3）过失或非法误差 意想不到而存在的误差，如实验中因过失或错误引起的误差，实验之后的计算误差。 输入阶跃信号 ξ1（过阻尼状态） 图3-8 二阶系统单位阶跃响应 ④响应时间ts (如图3-8） ——单位阶跃响应曲线达到并保持在响应曲线终值允许的误差范围内所需的时间。 ⑤超调量Ｍ％ ——单位阶跃响应曲线的最大值与响应曲线终值的差值对终值之比的百分数。 ２.频率响应 １）一阶系统 输入正弦信号x(t)=x0sinωt，频率响应函数 特点： ①当ωτ0.3时，|H(jω)|接近于1，输出与输 入幅值几乎相等，如图3-9。 ②当ω增大时，|H(jω)|减小，φ(ω)增大。 ③当ω=1/τ时，H(jω)|=0.707（-3dB），φ=-45°。ω=1/τ点称为转折频率。 ④τ越小，工作频率范围越宽，响应速度越快。 ２）二阶系统 输入正弦信号x(t)=x0sinωt，频率响应函数 特点： ①低频段： 频率比λ=ω/ωn很小时， A(ω)≈1， φ(ω) 与ω/ωn近似线性关系，如图3-10(a)、(b)。 动态幅值误差为 ①一阶系统的动态误差 动态幅值误差表达式为 相位误差的表达式就是二阶系统的相频特性 y(t)= A0x(t-τ0)的傅立叶变换 措施： 1）选用合适测量装置 2）对输入信号前置处理 对于一阶系统，时间常数越小越好。 对于二阶系统，特性曲线上有两个频段值得注意： 1）ω＜0.3ωn范围 图3-10(a) (b) φ(ω)的数值较小，且相频特性接近直线，A(ω)在该频率范围内的变化不超过10%。 ２、阶跃响应法 1）一阶系统的动态特性参数 简单方法： 测得一阶系统的阶跃响应，取该输出值达到最终稳态值的63%所经过的时间——时间常数。 ——取决于某些个别的瞬时值，未涉及响应的全过程，测量结果的可靠性较差。 常用方法： 一阶系统的阶跃响应表达式，改写为 z和t成线性关系。根据阶跃响应曲线测得的y(t)值，作出z-t曲线。曲线的斜率就是时间常数。 从阶跃响应曲线（如上图）测得Ｍ1，就可求出ξ。 如果测得阶跃响应较长的瞬变过程，则可利用任意两个超调量Ｍi和Ｍi+n来求得阻尼率。n为该两峰值相隔的整周期数，对应时间分别为ti和ti+n，有 将ti和ti+n分别代入式（3-22）求出Ｍi和Ｍi+n，令 七、测试环节的串联和并联 如下图a所示的两传递函数分别为H1(s)和H2(s)的环节串联而成的测试系统，其传递函数为 　总之，在组成测量系统时，要充分考虑各组成环节之间连接时的负载效应，尽可能地减小负载效应的影响。 九、测量系统的抗干扰 测量系统的干扰源来自多方面。机械振动或冲击会对测试系统(尤其是传感器)产生严重的干扰；光线会对测量装置中的半导体元件产生干扰；温度的变化会导致电路参数和工作点的变化，产生干扰；此外，还有电磁的干扰等等。 干扰信号传入测量系统主要有三种传输途径，如下图所示 (1) 电磁干扰：干扰以电磁波辐射方式经空间串入测量系统。 (2) 信道干扰：信号在传输过程中，通道中各元件产生的噪声或非线性畸变所造成的干扰。 (3) 电源干扰：这是由于供电电源波动对测量电路引起的干扰。 §3-3 测量装置的动态特性 幅频特性 相频特性 幅频特性图和相频特性图,见下页。 §3-3 测量装置的动态特性 图3-9 一阶系统的幅频特性和相频特性 ωτ A（ω） 0.1 0.2 0.5 1.0 2 5 10 2.0 1.0 0.5 0.3 0.2 0.1 (a) 幅频特性 0.1 0.2 0.5 1.0 2 5 10 -80° -40° -60° -20° 0° ωτ ψ（ω） (b) 相频特性 §3-3 测量装置的动态特性 §3-3 测量装置的动态特性 幅频特性 相频特性 幅频特性图3-10（a)和相频特性图3-10(b) §3-3 测量装置的动态特性 图 3-10 二阶系统幅频特性 §3-3 测量装置的动态特性 (a) 图3-10 二阶系统相频特性 §3-3 测量装置的动态特性 (b) ③λ=ω/ωn=1时，A(ω) =1/2ξ，系统发生共 振，幅频特性的幅值取决于ξ，输出相位滞 后90°。 ②高频段： 当频率比 λ=ω/ωn＞＞1时，A(ω)→0，相位 滞后近