JW3319PLC裸器件自动测试系统.pdfVIP

JW3319 系列 PLC 自动测试系统 1 概述(General Information) PLC 光分路器自动测试系统专为解决当前 PLC 测试面临测试效率低，测试成本高，测试难度大等 问题，提供了一种崭新的 PLC 测试方案。本系统结 合了精密电动平移台、高速偏振控制器、高速光功 率计的优势，并采用优化自动控制算法，极大的减 少了测试时间，降低了测试成本，提高了产品测试 效率，并首次增加了 PLC 等级设置等更完善的数据 处理和存储功能。 2 主要特点（Key benefits ） （1 ）：免带纤熔接、免匹配液耦合，大幅降低测试成本，简化员工测试步骤，提高测试效率； （2 ）：使用精密电动平台自动测试原理，极大的降低测试难度，减少测试时间； （3 ）：采用高速偏振控制器，更全面邦加球覆盖率，PDL 测试值更准确； （4 ）：使用单纤归零技术，相比同类多通道测试仪需要归零多个通道而言，大幅减少归零时间，由于只有一个归零通道，不会像多通 道测试仪那样有不同通道间的不平衡性 ； （5 ）：提供1310nm、1490nm、1550nm 三个标配测试波长，提供 1260nm、1610nm 两个用户选配波长，最多支持五波长测试； （6 ）：三波长IL 测试仅需 3 秒；三波长 IL+PDL 测试仅需 6 秒; （7 ）：全自动测试、数据分析、电子表格保存功能； （8 ）：PLC 阈值设置、产品特性等级设置、分等级存储等功能，满足最新的 PLC 光分路器测试应用要求； （9 ）：专业技术团队售后服务，使您测试无后顾之忧； 3 相关产品参考(Reference) 表 1 ：PLC 自动测试系统与传统8 通道 PLC 测试系统对比 测试步骤 自动测试系统 8 通道测试系统 对比说明 归零 只需剥 1 条光纤； 分别剥 8 条光纤； 归零效率提高8 倍以上； 切割 1 次； 分别切割 8 次； 无通道误差; 无需熔接； 分别熔接 8 次； 无通道间非线性漂移； 只有一个通道归零 分别对 8 个通道归零； 测试步骤 1 PLC 进线端与光源线熔接 PLC 进线端与光源线熔接 相同 测试步骤 2 剥 PLC 带纤侧并切割 剥 PLC 带纤侧并切割 相同 测试步骤 3 无此步骤 剥 8 通道测试系统输入侧带纤并切割 省去此步骤时间，提高测试效率； PLC 测试系统无此步骤； 8 通道设备此步骤约需 10S ； 测试步骤 4 无此步骤 进行带纤熔接机熔接 无带纤熔接机熔接步骤； 无带纤熔接失败重复步骤； 无带纤熔接时引入的 IL 及 PDL 损耗，降低外界耦 合误差； 无带纤熔接机，降低设备成本； PLC 测试系统无此步骤；提高测试效率; 测试步骤 5 采用高速 PDL 模块进行 采用低速、经济型 PDL 模块进行 IL/PDL PLC 自动测试系统测试单波长 8 芯 PLC 约合4S ； IL/PDL 测试 测试 8 通道测试系统测