RAC-1810A射频微波器件在片测试和参数提取系统解决方案.PDF

RAC-1810A 射频微波器件在片测试和参数提取系 统解决方案 系统方案： 射频微波器件在片测试和参数提取系统是基于器件的在片测试和综合参数提取的需求而搭建的测试 系统平台。系统由商用测试仪器、定制测试设备、探针台或测试夹具、工控机及测试软件组成。测试系统 的主要功能是对各种射频微波器件的在片测试和参数提取的自动实现、测试数据和结果的分析管理。 测试系统配置仪表 测试系统配置高性能，高稳定度的测试仪表是系统测试指标保证的基本条件。测试仪表的选型依 据测试仪表的测试功能、技术指标、市场评价、销售价格等因素。微波部件自动测试系统需要配置的 商用测试仪表如下：  半导体分析仪：用于器件的I-V、C-V 参数测试  微波矢量网络分析仪：用于无源/有源部件S 参数测试  微波信号分析仪 （频谱仪）：用于有源部件失真参数测试  微波信号源：用于有源部件功率参数及失真参数测试  微波功率计：用于有源部件功率参数测试  信号源分析仪：频率器件的相位噪声以及锁相环集成电路的测试  直流电源 （或电源分析仪）：用于有源部件测试中供电和功耗测试  噪声系数分析仪 （网络仪也可配置此项功能）：用于低噪放/混频器噪声系数测试 测试系统定制测试设备 测试系统面对不同的被测微波部件及测试参数的需求，需要特殊定制一些专用设备。比如实现被 测件与测试仪表连接及切换的开关矩阵，控制/切换被测件状态的控制接口等。  开关矩阵：测试系统内配置的开关矩阵的主要作用是实现输入信号及测试仪表与被测件测试 端口的自动连接和自动切换。开关矩阵的设计完全依据被测件的端口、测术参数需求及测试仪表配置 而专门定制设计。通常对于复杂而庞大的测试系统，开关矩阵分为被测件输入开关矩阵和被测件输出 开关矩阵。  控制接口：系统内配置的接口控制装置主要用于对被测件的状态进行控制。例如：测试可控 衰减器/移相器的衰减及相位特性。控制接口依据被测件的实际状况或给定通讯协议设计控制接口。 控制接口的类型多为串口、并口或其他的常用通讯接口。  探针台和测试夹具：根据晶圆尺寸或IC 的封装类型的不同需要定制不同的探针台和测试夹 具，特别是对于探针端面或夹具端面的校准需要定制相应频段的校准件；需要考虑直流探针和射频探 针的数量以及相关参数，夹具需要考虑偏置电路设计等；探针台需要考虑自动或半自动类型，是否需 要变温等工作条件。 测试系统软件平台及测试功能  平台化软件 为了高效率、高质量的集成不同类型、不同功能模块的测试系统，中创锐科公司推出了自己的软 件平台概念——RAC-TestLabTM。这个平台集成了自动测试软件的共同功能，包括人机交互、参数设置、 测试流程管理、数据管理等模块，平台的统一性保证了系统集成产品的良好一致性和低故障率，并使 得测试功能模块的扩展成为可能。  平台运行环境  Microsoft XP/2000/Vista/Windows7 操作系统；  Microsoft .NET Framework SDKv2.0；  Office 2003/2007 中文办公软件；  Agilent IO Libraries Control 控制电缆驱动软件；  Pentium4 1.6GHz 主频以上的计算机；  1024M 以上内存；  具备多个USB 2.0 接口。  人机交互界面 灵活新颖的人机界面是本测试系统的一大特点，自动测试系统的用户界面由启动界面、登录界面、 主界面、测试规划界面、测试界面、仪表信息界面、账号管理界面、系统修正与校准界面、测试报告 界面、远程数据管理界面及操作设置面板等几部分，界面总体采用Windows XP 风格。  自动控制功能 软件可自动控制系统中所有仪表的工作状态，包括网络分析仪、信号源、频谱仪、直流电源及电 流表。可控制探针台在测试中的探针移动及探针抬起/放下。对探针台的具体控制资料需用户提供。  自定义测试报告 系统支持灵活的报告生成。既可以按照标准要求，生成标准格式的word、excel 等报告文件，也 可以由用户自定义模板，生成满足各种需求的测试报告。 系统能够完成测试信息的输入。测试信息包括：版号、批次、片号、电路名称、测试人员、日期时间 （取系统时间）； 系统能够完成MAP 图导出到word 的功能，并生成报表。报表中有版号、批次、片号、电路名称、 测试人员、